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早期,X熒光鍍層測厚儀基本被國外廠家(德國費(fèi)希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做光譜儀,是一家專業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家,在X熒光鍍層檢測方面,*打破國外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器,在測試精度可以與進(jìn)口設(shè)備PK過程中不落下風(fēng)。
天瑞金屬鍍層測厚儀_天瑞儀器
測試方法一般有以下幾種方法:1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-20053、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005測量標(biāo)準(zhǔn)1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞金屬鍍層測厚儀_天瑞儀器 具如下特點(diǎn):1. 高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm;2. 采用高度定位激光,可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求;4. 定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊;5. 鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn);6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn),微小測試點(diǎn)更;7. X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下,價格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便,維護(hù)成本更低。 測試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試,其測試位置如下圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖 樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um)
吊扣 100 19.321
吊扣2# 100 19.665
吊扣3# 100 18.846
吊扣4# 100 19.302
吊扣5# 100 18.971
吊扣6# 100 19.031
吊扣7# 100 19.146
平均值 100 19.18314
標(biāo)準(zhǔn)偏差 0 0.273409
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 0 1.425257
銅鍍鎳件測試值結(jié)論實(shí)驗(yàn)表明,使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)ROHS檢測儀(EDX1800B),鍍層測厚儀(Thick800A),氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀(GCMS),等離子發(fā)射光譜儀(ICP2060T),x射線測厚儀,ROHS檢測設(shè)備,X射線鍍層測厚儀,氣相色譜儀,ROHS測試儀,液相色譜儀,ROHS2.0新增4項(xiàng)分析儀,手持式礦石分析儀,雙酚A檢測儀,X射線熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀, ROHS儀器,手持式合金分析儀(EXPLORER5000)等分析儀器,涉及的儀器設(shè)備主要有Thick8000、Thick800A 、EDX1800B