北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗試驗儀

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產(chǎn)品型號GDAT-A

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地北京市

更新時間:2022-05-01 16:20:02瀏覽次數(shù):8次

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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10

電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器:

按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。

 

高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準確性。

 

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數(shù)顯,壓控振蕩器

Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差:±1%±1pF

Q表殘余電感值:約20nH

 

 

Q值測量

.Q值測量范圍:2~1023;

  .Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

 

Q合格指示預(yù)置功能:預(yù)置范圍:51000

   6Q表正常工作條件

   a. 環(huán)境溫度:0+40;

  b.相對濕度:<80%;

  c.電源:220V±22V50Hz±2.5Hz。

   7.其他

  a.消耗功率:約25W;

   b.凈重:約7kg

   c.外型尺寸:(寬××深)mm380×132×280。

 

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置:

2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

 

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