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(介電常數(shù)測(cè)試儀)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)GDAT-A

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地北京市

更新時(shí)間:2022-05-01 17:00:02瀏覽次數(shù):3次

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(介電常數(shù)測(cè)試儀)介質(zhì)損耗測(cè)試儀介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀:GDAT-A
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的*方法

(介電常數(shù)測(cè)試儀)介質(zhì)損耗測(cè)試儀GDAT-A

(介電常數(shù)測(cè)試儀)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》

(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。

 

它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測(cè)試。

 

 

電感:
 
線圈號(hào)    測(cè)試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH            
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

 

技術(shù)指標(biāo):
  1.Q值測(cè)量
   a.Q值測(cè)量范圍:2~1023。
   b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
 c.標(biāo)稱誤差
項(xiàng)    目GDAT-A
頻率范圍20kHz~10MHz;
固有誤差≤5%
工作誤差≤7%
頻率范圍10MHz~60MHz;
固有誤差≤6%
工作誤差≤8%
  
 2.電感測(cè)量范圍:14.5nH~8.14H
  
3.介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀電容測(cè)量:1~ 460

項(xiàng)    目    GDAT-A
直接測(cè)量范圍


1~460pF     主電容調(diào)節(jié)范圍      準(zhǔn)確度 30~500pF   150pF以下±1.5pF;   150pF以上±1%
   注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用規(guī)則
   4.介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀信號(hào)源頻率覆蓋范圍

 

產(chǎn)品特點(diǎn):

雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 
雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。 
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。 
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。 
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至低,治療 Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

 

 

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