高絕緣材料固體體積表面電阻率測(cè)試儀概述
BEST- 121型高絕緣電阻測(cè)量?jī)x用于測(cè)量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻;與恒溫水浴配套后,還能測(cè)量不同溫度下的塑料電線電纜(無(wú)屏蔽層)的絕緣電阻,該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、輸入端高壓短路等優(yōu)點(diǎn),儀器的zui高量程 1018Ω電阻值(測(cè)試電壓為 1000V)。 本儀表貫徹 Q/TPGG 7-2008 高絕緣電阻測(cè)量?jī)x企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
高絕緣材料固體體積表面電阻率測(cè)試儀主要應(yīng)用范圍
l 材料高阻測(cè)試測(cè)量如防靜電產(chǎn)品(防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等)電阻值的檢測(cè);
l 材料體電阻(率)和表面電阻(率)測(cè)量;
l 電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究;
l 微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。
同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I,通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算,然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I是同時(shí)變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而變,所以, 即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大,其測(cè)量精度很高。從理論上講其誤差可以做到零。而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬(wàn)分之幾。
使用注意事項(xiàng)
★高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行,否則有可能造成儀器*損壞或電人。
7.1 應(yīng)在“Rx”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零(主機(jī)開(kāi)機(jī))
如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零,但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。
7.2 禁止將“Rx”兩端短路,以免微電流放大器受大電流沖擊
7.3 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓,
★隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器,而且有的材料是非線性的,即電壓與電流是不符合歐姆定律,有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化,所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。
7.4 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔
★每撥一次稍停留1~2秒以便觀察顯示數(shù)字,當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下,記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí),表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥,否則有可能損壞儀器(機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路)。除104 Ω檔之外,當(dāng)顯示低于1.99,表示過(guò)量程應(yīng)換低檔!
7.5 大部分絕緣材料,特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化
★由于本儀器的分辯率很高,因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化,這不是儀器本身的問(wèn)題,而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。
7.6 接通電源后,手指不能觸及高壓線的金屬部分
★本儀表有二連根線:高壓線(紅)和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線,開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線,以免電人或麻手。
7.7 測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端
★微電流測(cè)試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸,以免損壞儀表。
7.8 在測(cè)量高阻時(shí),應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽.
★在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí),為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。
7.9 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“104 ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試
在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔,測(cè)量完時(shí)應(yīng)將電流電阻量程、電壓量程開(kāi)關(guān)撥回低檔。以 確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。
★人體一般可以帶上幾千甚至幾萬(wàn)伏靜電!
是一臺(tái)能測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器,盡管儀器有多種保護(hù)措施,這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過(guò)大電流沖擊、過(guò)電壓或放電等*損壞或降低其測(cè)量精度與性能。
測(cè)試過(guò)程 | 不正確的操作方式 | 后果 | 是否閱讀 |
開(kāi)機(jī)前
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沒(méi)有將電壓撥至10V,電阻電流量程檔撥至104
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過(guò)電流沖擊造成儀器放大器過(guò)電流而損壞
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測(cè)試過(guò)程
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隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓
| 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞
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測(cè)試過(guò)程 | 改變屏蔽箱上體面電阻,表面電測(cè)測(cè)試開(kāi)關(guān) | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞 |
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測(cè)試過(guò)程 | 測(cè)試電壓過(guò)高,導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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測(cè)試過(guò)程 | 微電流測(cè)量線與高壓線短路 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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測(cè)試完成
| 未將電壓量程撥至10V,電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。
| 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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