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本儀器測試儀測試步驟如下：
儀器的測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響。
a. 把配用的Q表主調諧電容置于較小電容量。
b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
c. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求）， 如：1MHz 時電感取250uH，15MHz時電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵，打開液晶顯示屏。
e. 調節(jié)平板電容器測微桿，使平板電容器二極片相接為止，長按SET按鍵將初始值設置為0。
4．介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節(jié)時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點上。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧，此時調節(jié)平板電容器，使Q 表再回到諧振點上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計算被測樣品的介電常數(shù)：
Σ＝D2 / D4
5．介質損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測試裝置，再改變Q 表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數(shù)記為C3，此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1
d. 計算被測樣品的介質損耗系數(shù)公式如下：
式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）
C0 為測試電感的分布電容（參考LKI-1 電感組的分布電容值）
以下為儀器參數(shù)
滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質損耗因數(shù)的*方法
主要參數(shù)：
電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量范圍1 ～ 200pF 主電容調節(jié)范圍 18 ～ 220pF主電容調節(jié)準確度100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％ 信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz 頻率分段 （ 虛擬 ）
| 電感測量范圍 | 4.5nH ～ 140mH |
| 電容直接測量范圍 | 1 ～ 200pF |
| 主電容調節(jié)范圍 | 18 ～ 220pF |
| 主電容調節(jié)準確度 | 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％ |
| 信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz |
| 頻率分段 （ 虛擬 ） | 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz, 10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz |
| 頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |
主要技術特性
Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差 ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
BD916介質損耗測試裝置技術特性 ：
| 平板電容器： | 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選 |
| 極片間距可調范圍： | ≥15mm |
| 夾具插頭間距： | 25mm±0.01mm |
| 夾具損耗正切值 | ≤4×10-4 （1MHz） |
| 測微桿分辨率： | 0.001mm |
電感：
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
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