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陶瓷塑料介電常數(shù)介質損耗測試儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號GDAT-A

品牌

廠商性質生產商

所在地北京市

更新時間:2022-05-01 17:30:02瀏覽次數(shù):5次

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陶瓷塑料介電常數(shù)介質損耗測試儀實驗原理:
介電體(又稱電介質)Z基本的物理性質是它的介電性,對介電性的研究不但在電介質材料的應用上具有重要意義,而且也是了解電介質的分子結構和激化機理的重要分析手段之一,探索高介電常數(shù)的電介質材料,對電子工業(yè)元器件的小型化有著重要的意義。介電常數(shù)(又稱電容率)是反映材料特性的重要參量,電介質極化能力越強,其介電常數(shù)就越大。

陶瓷塑料介電常數(shù)介質損耗測試儀實驗原理:

介電體(又稱電介質)zui基本的物理性質是它的介電性,對介電性的研究不但在電介質材料的應用上具有重要意義,而且也是了解電介質的分子結構和激化機理的重要分析手段之一,探索高介電常數(shù)的電介質材料,對電子工業(yè)元器件的小型化有著重要的意義。介電常數(shù)(又稱電容率)是反映材料特性的重要參量,電介質極化能力越強,其介電常數(shù)就越大。測量介電常數(shù)的方法很多,常用的有比較法,替代法,電橋法,諧振法,表法,直流測量法和微波測量法等。各種方法各有特點和適用范圍,因而要根據(jù)材料的性能,樣品的形狀和尺寸大小及所需測量的頻率范圍等選擇適當?shù)臏y量方法。



陶瓷塑料介電常數(shù)介質損耗測試儀特點: 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。



電感器:

按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。

高頻介質樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。

該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。


主要技術指標:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數(shù)顯,壓控振蕩器

Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率

可調電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差:±1%±1pF

Q表殘余電感值:約20nH



要技術特性:介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數(shù)值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。



使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。

1.測試注意事項

a.本儀器應水平安放;

b.如果你需要較精確地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;

c.調節(jié)主調電容或主調電容數(shù)碼開關時,當接近諧振點時請緩調;

d.被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差;

e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;

f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

2.高頻線圈的Q值測量(基本測量法)


維修

1.新購儀器的檢查

新購的儀器能先用LKI-1電感組,將各個電感在各個不同頻率測試Q值,把測試的情況,例使用的電感號、測試頻率Q讀數(shù)、電容讀數(shù)等多次測得數(shù)及測試環(huán)境條件逐一詳細記錄,并把記錄保存起來,以供以后維修時作參考。

LKI-1電感組是測試時作輔助電感用的,不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著測試環(huán)境條件不同,測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。

2.使用和保養(yǎng)

高頻Q表是比較精密的阻抗測量儀器,在合理使用和注意保養(yǎng)情況下,才能保證*穩(wěn)定和較高的測試精度。

a.熟悉本說明書,正確地使用儀器;

b.使儀器經常保持清潔、干燥;

c.本儀器保用期為18個月,如發(fā)現(xiàn)機械故障或失去準確度,可以原封送回本廠,免費修理。



BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產品,精密的加工設計、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。





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