高精度自動(dòng)薄膜測(cè)厚儀CHY-U 0.1微米測(cè)厚儀*
規(guī)格：CHY-U
關(guān)鍵字：薄膜測(cè)厚儀,自動(dòng)測(cè)厚儀,0.1微米測(cè)厚儀,高精度測(cè)厚儀,厚度測(cè)量?jī)x
品牌：sumspring三泉中石
在工業(yè)生產(chǎn)和生活應(yīng)用中，薄膜的厚度是一項(xiàng)非常重要的參數(shù)，因?yàn)樗苯雨P(guān)系到薄膜材料能否正常工作，尤其是一些微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等。除此之外，薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導(dǎo)率，表面結(jié)構(gòu)等都與厚度密不可分。
濟(jì)南三泉中石生產(chǎn)的CHY-U高精度自動(dòng)薄膜測(cè)厚儀適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度的測(cè)量。該儀器精度高，誤差小，操作簡(jiǎn)單方便，同時(shí)配備微型打印機(jī)，方便查看和打印數(shù)據(jù)結(jié)果。
技術(shù)特征
1.配備微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果 ；
2.打印數(shù)值及每次測(cè)量結(jié)果，方便用戶分析數(shù)據(jù) ；
3.儀器自動(dòng)保存達(dá)100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印 ；
4.標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備 ；
5.配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，誤差小 ；
6.提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶；
7.配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍 ：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
測(cè)量速度 ： 10次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積 ：50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
機(jī)器尺寸： 450mm×340mm×390mm (長(zhǎng)寬高)
重 量： 23Kg
工作溫度：15℃-50℃
試驗(yàn)環(huán)境：無震動(dòng)，無電磁干擾
工作電源：220V 50Hz
參照標(biāo)準(zhǔn)
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、
ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、
JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817
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