暗場散射光譜—小尺度結(jié)構(gòu)研究*

時間：2020-12-29閱讀：734

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概念解釋：暗場顯微(英文：Dark-field microscopy)或稱暗視野顯微(英文：Dark ground microscopy)描述光學顯微和電子顯微中的一種特殊顯微手法，除去觀測物體以外的光線或電子進入物鏡，使目鏡中觀測到的視野背景是黑的，只有物體的邊緣是亮的。利用這個方法能見到小至 4~200nm的微粒子，分辨率可比普通顯微法高50倍。
應用簡介
暗場顯微技術(shù)采用光學顯微鏡結(jié)合特殊的照明和觀察方式，使得只有樣品大角度散射的光能夠進入物鏡并被探測到。采用暗場顯微技術(shù)，可以克服常規(guī)光學顯微（明場照明成像）針對均一樣品中的微小結(jié)構(gòu)成像時，透射或反射襯度不足的問題，使得微小的結(jié)構(gòu)在背景中得以突出呈現(xiàn)，特別適合顆粒、纖維、小尺度界面等的觀測。

暗場散射光譜—小尺度結(jié)構(gòu)研究*

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