模塊化測(cè)量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2，搭載 Windows™ CE 操作系統(tǒng)，是適用于高精度涂鍍層厚度測(cè)量與材費(fèi)希爾MMSPC進(jìn)...

菲希爾MP0/MP0R 電渦流測(cè)厚儀 ，小巧、方便且穩(wěn)固 – MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡(jiǎn)便、快速且無(wú)損地測(cè)量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外...

菲希爾XAN500型便攜式X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及...

菲希爾XULM系列X射線熒光鍍層測(cè)厚儀菲希爾XULM系列 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能、設(shè)計(jì)緊湊、應(yīng)用廣泛的...

菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。這款儀器專門是為...

菲希爾XDV-SDD X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，用于自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度或進(jìn)行...

XDLM-PCB 220 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測(cè)量印制電路板上鍍層...

菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它是由大眾認(rèn)可的FIS...

菲希爾XUL220型X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能、設(shè)計(jì)緊湊、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無(wú)...

復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀，Ux-720 精密鍍層分析儀是一款無(wú)需標(biāo)樣即可對(duì)金屬鍍層厚度、基材及電鍍層成分分析的高性價(jià)比機(jī)型，軟件*的開放式工作曲線功能，方便用...

菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，*多毛細(xì)孔X 射線光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，可自動(dòng)測(cè)量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。

鎳銅鎳三層鍍層厚度膜厚儀器Ux-720 精密鍍層分析儀X射線熒光光譜儀是華唯公司經(jīng)過(guò)3年研發(fā)，專門針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普...

菲希爾FMP100/150系列涂層測(cè)厚儀器，憑借 DUALSCOPE® FMP100 和 FMP150，F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測(cè)量...

菲希爾FMP10-40 系列涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x，F(xiàn)MP10—FMP40 系列手持式涂鍍層厚度測(cè)量設(shè)備可提供精確的測(cè)量結(jié)果，多種測(cè)量技術(shù)使其具有高度的靈活性。包括采...

FISCHERSCOPE® UMP 20, 40 and 100菲希爾UMP20、40、100、150 超聲測(cè)厚儀，F(xiàn)ischer的新產(chǎn)品UM...