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芯片卡反復(fù)循環(huán)滾壓測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試,適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試。
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智能卡扭曲測試儀主要用于RFID電子標(biāo)簽抗扭曲性能的檢測和少量電子標(biāo)簽抗彎曲應(yīng)力性能的檢測。
三輪測試儀摩信專業(yè)制造商將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率為0.5Hz,并在芯片上加一個8N的力,經(jīng)過往復(fù)...
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