fischer x-ray XAN 310高性價比x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用...

菲希爾X-RAY熒光測厚儀各種材料分析儀器X 射線熒光分析儀器，具有的精度與廣泛的適用性。FISCHER 產(chǎn)品包含了滿足不同領(lǐng)域測試需求的高性能儀器。

FISCHERSCOPEB XAN310材料分析及鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用于...

X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置...

ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測量儀此手持式儀器測量氧化膜的導(dǎo)納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 ...

德國進(jìn)口FeritScope FMP30鐵素體含量測試儀在奧氏體或雙相鋼必須承受高溫、侵蝕性物質(zhì)以及高壓的情況下，鐵素體含量至關(guān)重要。特別是涉及到化工廠、能源設(shè)...

菲希爾SCOPE MMS PC2測厚儀：用于質(zhì)量*先的地方：進(jìn)貨檢驗，Z終檢驗，持續(xù)生產(chǎn)，抽樣或常規(guī)檢測。 而在所有行業(yè)。 作為其現(xiàn)代設(shè)計的結(jié)果，MMS PC2...

FischerScope MMS PC2庫侖電解鎳層測厚：用于質(zhì)量*先的地方：進(jìn)貨檢驗，Z終檢驗，持續(xù)生產(chǎn)，抽樣或常規(guī)檢測。

PCB板銅厚度測試儀RMP30-S采用微處理器控制的手提式銅箔測厚儀。電源供電通過電池或交流穩(wěn)壓器。

FISCHERSCOPE MMS臺式測厚儀：在所有行業(yè)，作為其現(xiàn)代設(shè)計的結(jié)果，MMS 可以隨時適應(yīng)您的需求并擴(kuò)展。 無論涂層厚度，電導(dǎo)率還是鐵素體含量，使用MM...

Fischer DualScope FMP150高配置測厚儀配有彩色可觸摸屏的，可無損測量幾乎所有金屬上涂層的型手持式儀器

Oxford CMI155現(xiàn)貨供應(yīng)高精度涂層測厚儀CMI155用于測量鐵、鋼、鋁和其他基底上的單層涂層或總涂層厚度。此種測量儀具有特別為光 滑表面和擴(kuò)展測量范圍...

X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDALXDL / XDLM / XDAL憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀...

Fischer Couloscope CMS2 STEP多鍍層測厚儀Fischer臺式庫侖測厚儀，可以測量多層金屬鍍層，比如鉻鎳銅及汽車的內(nèi)外飾件，汽車行業(yè)測量...

德國SR-SCOPE RMP30-S銅箔測厚儀上海直銷該便攜式設(shè)備采用 4 點電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹...

FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚儀來自德國菲希爾的X射線熒光測量儀，帶有快速可編程的XY平臺和Z軸，可自動測量薄涂層厚度和進(jìn)行材料分析。...

菲希爾Couloscope CMS2 STEP庫侖法測厚儀這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控...

英國牛津Oxford CMI153代理CMI153以大獲成功的CMI150架構(gòu)為基礎(chǔ)，通過增強(qiáng)操作性能及出色的底材靈敏度，改進(jìn)了測量探頭。雙功能技術(shù)特色：基于磁...

cmi153鍍層測厚儀牛津儀器供應(yīng)cmi153 涂層測厚儀結(jié)合磁感應(yīng)和電渦流技術(shù)，在cmi150涂層測厚儀基礎(chǔ)上，通過增強(qiáng)操作性能及出色的底材靈敏度，改進(jìn)了測量...

Oxford CMI155測厚儀涂層測厚CMI155用于測量鐵、鋼、鋁和其他基底上的單層涂層或總涂層厚度。此種測量儀具有特別為光 滑表面和擴(kuò)展測量范圍設(shè)計的探針