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94次實(shí)驗(yàn)室一直都希望能夠通過提高樣品通量和盡力減少日常費(fèi)用來提高分析效率并 降低運(yùn)行成本。農(nóng)業(yè)應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室通常需要處理大量樣品,但提高分析速度通常會 導(dǎo)致某種分析性能的損失,例如精密度降低
結(jié)合了*集成式閥系統(tǒng) (AVS) 的 Agilent 5110 ICP-OES [1] 無需在分析速 度和精密度之間進(jìn)行折中。其設(shè)計(jì)用于實(shí)現(xiàn)更快速、更經(jīng)濟(jì)而更簡單的樣品分析, 是高通量實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。
AVS 與 5110 的同步垂直雙向觀測 (SVDV) 功能以及可在單 次讀數(shù)中涵蓋所有波長的 Vista chip II 檢測器相結(jié)合,能夠 以超快速度分析樣品且不損失性能。這一高速樣品分析能 力可降低每次分析成本,因?yàn)榭s短每個樣品的分析時間可減 少氬氣用量。
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