IM7587日本日置HIOKI阻抗分析儀
可信賴的機(jī)型3GHz
● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz
● 測(cè)量時(shí)間：快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）
● 測(cè)量值偏差：0.07%（用3GHz測(cè)量線圈1nH時(shí)）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
IM7587日本日置HIOKI阻抗分析儀
基本參數(shù)（精度保證時(shí)間1年，調(diào)整后精度保證時(shí)間1年）
| 測(cè)量模式 | LCR (LCR測(cè)量),分析儀 (掃頻測(cè)量), 連續(xù)測(cè)量 |
|---|---|
| 測(cè)量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
| 測(cè)量頻率 | 1 MHz?3 GHz (設(shè)置分辨率100 kHz) |
| 測(cè)量信號(hào)電平 | 功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓(V) 模式: 4 mV~502 mVrms 電流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms |
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時(shí)) |
| 顯示 | 彩色TFT 8.4英寸, 觸摸屏 |
| 測(cè)量時(shí)間 | 快0.5ms（FAST、模擬測(cè)量時(shí)間、代表值） |
| 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取/保存、存儲(chǔ)功能、等效電路分析、相關(guān)補(bǔ)償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 體積和重量 | 主機(jī): 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測(cè)試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
| 附件 | 測(cè)試頭×1, 連接線×1, 使用說(shuō)明書×1, CD-R (通訊說(shuō)明書) ×1, 電源線×1 |
自動(dòng)化元器件檢測(cè)SH-WRJ0002
背景
被動(dòng)元器件，在5G和新能源車、消費(fèi)類電子產(chǎn)品升級(jí)的帶動(dòng)下，需求量越來(lái)越大。MLCC、厚膜電阻等，不管是產(chǎn)品的功率、還是對(duì)小尺寸產(chǎn)品的追求?？蛻魧?duì)產(chǎn)線設(shè)備的要求是，高速、高精度，高一致性的測(cè)試設(shè)備。
具體應(yīng)用
根據(jù)被動(dòng)元器件廠家產(chǎn)線的產(chǎn)量及良率要求，高速評(píng)價(jià)元器件特性（L/C/R/Z/Q等），測(cè)試數(shù)據(jù)分等級(jí)批次一次完成。配套測(cè)包機(jī)系統(tǒng)，兼顧系統(tǒng)兼容性和小尺寸治具。
使用儀器
LCR IM3536
高頻阻抗分析儀 IM7580系列
微電阻計(jì) RM3545
高阻計(jì) SM7110
興旺寶