LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學(xué)研究所
雙膜測厚儀LZ-373
無損檢測設(shè)備
它是一種緊湊且輕巧的緊湊型機(jī)身,可測量非磁性金屬上絕緣膜的厚度,并且可以測量相對薄的厚度,例如鋁礬土。
LZ-373是一種雙類型膜厚計(jì),可以測量磁性材料和非磁性金屬上的膜厚。它是處理各種材料和各種涂層的領(lǐng)域合適的膜厚計(jì)。
LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學(xué)研究所
特征
與傳統(tǒng)的膜厚計(jì)相比,數(shù)據(jù)存儲器和兼容標(biāo)準(zhǔn)有所增加。
它是雙重類型。
這是一款袖珍型膜厚計(jì),具有電磁和渦流測量功能。
配備有足夠的功能作為膜厚計(jì)。
應(yīng)用程序選擇,基準(zhǔn)校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲器,上下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測量計(jì)數(shù),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,大值,小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間,背光亮度可以根據(jù)需要設(shè)置16種功能,例如背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動(dòng)批次分類,測量方法和維護(hù)模式。
應(yīng)用程序存儲器(校準(zhǔn)曲線存儲器)功能。
電磁型和渦流型各有50種,總共存儲了100種已調(diào)整的應(yīng)用程序(校準(zhǔn)曲線),因此第二次即可進(jìn)行相同的測量,而無需進(jìn)行麻煩的調(diào)整。即使關(guān)閉電源,該存儲器也不會(huì)被擦除。
緊湊輕巧的機(jī)身。
尺寸為寬75mm,長145mm,厚31mm,質(zhì)量340g。由于尺寸可以一只手握住,因此可以輕松地在測量現(xiàn)場使用。
測量原理
電磁法(磁性金屬上非磁性涂層的測量)
當(dāng)交流電磁鐵接近鐵(磁性金屬)時(shí),進(jìn)近距離會(huì)改變穿透線圈的磁通量,從而改變線圈兩端的電壓。從電流值讀取該電壓變化,并使用電磁膜厚計(jì)將其轉(zhuǎn)換為膜厚,該膜厚計(jì)用于測量磁性金屬上的非磁性涂層。
渦流法(非磁性金屬上的絕緣膜的測定)
當(dāng)具有恒定高頻電流的線圈靠近金屬時(shí),金屬表面會(huì)產(chǎn)生渦流。該渦電流根據(jù)線圈和金屬表面之間的距離而改變,因此線圈兩端的電壓也改變。渦流型膜厚計(jì)從電流值中讀取該變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚,用于測量非磁性金屬上的絕緣膜。
測量對象的適用
基礎(chǔ) | 測量膜 |
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鋼鐵 | 鋁,銅錫,鉻,鋅,襯里,搪瓷,橡膠樹脂,漆,塑料等 |
鋁,銅,黃銅等 | 樹脂,清漆,搪瓷,塑料,橡膠,鋁礬土(陽極氧化膜),涂料等。 |
屏幕顯示
經(jīng)常問的問題
可以測量鍍膜嗎?
規(guī)范
測量方式 | 電磁感應(yīng)式/渦流式 |
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被測物 | 磁性金屬上的非 磁性涂層 磁性金屬上的絕緣涂層 |
測量范圍 | 電磁感應(yīng)類型:0至2500μm或99.0密耳 渦流類型:0至1200μm或47.0密耳 |
測量精度 | 小于50μm:±1μm,50μm或以上但小于1000μm:±2% 1000μm或以上:±3% |
解析度 | 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1μm |
符合標(biāo)準(zhǔn) | 電磁感應(yīng)類型:JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401,ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376 渦流類型:JIS K5600-1-7,JIS H8680-2,JIS H8501,ISO 2808,ISO 2360,ISO 2064,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5,ASTM E 376 |
數(shù)據(jù)存儲器數(shù) | 約39,000點(diǎn) |
校準(zhǔn)曲線記憶 | 應(yīng)用存儲器:50電磁感應(yīng)型,50渦流型 |
附加功能 | 應(yīng)用程序選擇,基礎(chǔ)校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲器,上下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測量計(jì)數(shù),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,大值,小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間,背光亮度,背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動(dòng)批次分類,測量方法,維護(hù)方式 |
探測 | 單點(diǎn)接觸恒壓型(LEP-J,LHP-J) |
顯示方式 | 數(shù)字(背光LCD 128 x 64點(diǎn),小顯示位數(shù)0.1μm) |
外部輸出 | 可以輸出到PC(USB或RS-232C) |
電源供應(yīng) | 電池1.5V(AA堿性)x 4 |
能量消耗 | 80mW(背光關(guān)閉時(shí)) |
電池壽命 | 100小時(shí)(無背光,連續(xù)使用) |
工作環(huán)境溫度 | 0-40°攝氏度 |
尺寸/質(zhì)量 | 75(W)x 145(D)x 31(H)毫米,0.34千克 |
零件
- 身體
- 標(biāo)準(zhǔn)板x 5(50μm,100μm,300μm,500μm,1000μm)
- 零板支架(鐵基/非鐵基)
- 鐵探針(LEP-J)
- NFe探針(LHP-J)
- 探頭適配器
- 數(shù)據(jù)管理軟件(CD-R)
- PC電纜(RS-232C)
- RS-232C USB轉(zhuǎn)換器
- 儲物箱
- 說明書