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LZ-373雙膜測(cè)厚儀日本凱特科學(xué)研究所

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更新時(shí)間:2022-05-27 22:00:03瀏覽次數(shù):42次

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LZ-373雙膜測(cè)厚儀日本凱特科學(xué)研究所
雙膜測(cè)厚儀LZ-373
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備
它是一種緊湊且輕巧的緊湊型機(jī)身,可測(cè)量非磁性金屬上絕緣膜的厚度,并且可以測(cè)量相對(duì)薄的厚度,例如鋁礬土。

LZ-373是一種雙類型膜厚計(jì),可以測(cè)量磁性材料和非磁性金屬上的膜厚。它是處理各種材料和各種涂層的領(lǐng)域合適的膜厚計(jì)。

LZ-373雙膜測(cè)厚儀日本凱特科學(xué)研究所

 

雙膜測(cè)厚儀LZ-373

 

雙膜測(cè)厚儀LZ-373無(wú)損檢測(cè)設(shè)備

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它是一種緊湊且輕巧的緊湊型機(jī)身,可測(cè)量非磁性金屬上絕緣膜的厚度,并且可以測(cè)量相對(duì)薄的厚度,例如鋁礬土。

LZ-373是一種雙類型膜厚計(jì),可以測(cè)量磁性材料和非磁性金屬上的膜厚。它是處理各種材料和各種涂層的領(lǐng)域合適的膜厚計(jì)。

LZ-373雙膜測(cè)厚儀日本凱特科學(xué)研究所

特征

與傳統(tǒng)的膜厚計(jì)相比,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器和兼容標(biāo)準(zhǔn)有所增加。

它是雙重類型。

這是一款袖珍型膜厚計(jì),具有電磁和渦流測(cè)量功能。

配備有足夠的功能作為膜厚計(jì)。

配備有足夠的功能作為膜厚計(jì)。

應(yīng)用程序選擇,基準(zhǔn)校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,上下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測(cè)量計(jì)數(shù),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,大值,小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間,背光亮度可以根據(jù)需要設(shè)置16種功能,例如背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動(dòng)批次分類,測(cè)量方法和維護(hù)模式。

應(yīng)用程序存儲(chǔ)器(校準(zhǔn)曲線存儲(chǔ)器)功能。

電磁型和渦流型各有50種,總共存儲(chǔ)了100種已調(diào)整的應(yīng)用程序(校準(zhǔn)曲線),因此第二次即可進(jìn)行相同的測(cè)量,而無(wú)需進(jìn)行麻煩的調(diào)整。即使關(guān)閉電源,該存儲(chǔ)器也不會(huì)被擦除。

緊湊輕巧的機(jī)身。

尺寸為寬75mm,長(zhǎng)145mm,厚31mm,質(zhì)量340g。由于尺寸可以一只手握住,因此可以輕松地在測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)使用。

測(cè)量原理

電磁法(磁性金屬上非磁性涂層的測(cè)量)

當(dāng)交流電磁鐵接近鐵(磁性金屬)時(shí),進(jìn)近距離會(huì)改變穿透線圈的磁通量,從而改變線圈兩端的電壓。從電流值讀取該電壓變化,并使用電磁膜厚計(jì)將其轉(zhuǎn)換為膜厚,該膜厚計(jì)用于測(cè)量磁性金屬上的非磁性涂層。

渦流法(非磁性金屬上的絕緣膜的測(cè)定)

當(dāng)具有恒定高頻電流的線圈靠近金屬時(shí),金屬表面會(huì)產(chǎn)生渦流。該渦電流根據(jù)線圈和金屬表面之間的距離而改變,因此線圈兩端的電壓也改變。渦流型膜厚計(jì)從電流值中讀取該變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚,用于測(cè)量非磁性金屬上的絕緣膜。

測(cè)量對(duì)象的適用

基礎(chǔ)測(cè)量膜
鋼鐵鋁,銅錫,鉻,鋅,襯里,搪瓷,橡膠樹(shù)脂,漆,塑料等
鋁,銅,黃銅等樹(shù)脂,清漆,搪瓷,塑料,橡膠,鋁礬土(陽(yáng)極氧化膜),涂料等。

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經(jīng)常問(wèn)的問(wèn)題

可以測(cè)量鍍膜嗎?

規(guī)范

測(cè)量方式電磁感應(yīng)式/渦流式
被測(cè)物
磁性金屬上的非 磁性涂層 磁性金屬上的絕緣涂層
測(cè)量范圍電磁感應(yīng)類型:0至2500μm或99.0密耳
渦流類型:0至1200μm或47.0密耳
測(cè)量精度小于50μm:±1μm,50μm或以上但小于1000μm:±2%
1000μm或以上:±3%
解析度小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1μm
符合標(biāo)準(zhǔn)電磁感應(yīng)類型:JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401,ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376
渦流類型:JIS K5600-1-7,JIS H8680-2,JIS H8501,ISO 2808,ISO 2360,ISO 2064,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5,ASTM E 376
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器數(shù)約39,000點(diǎn)
校準(zhǔn)曲線記憶應(yīng)用存儲(chǔ)器:50電磁感應(yīng)型,50渦流型
附加功能應(yīng)用程序選擇,基礎(chǔ)校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,上下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測(cè)量計(jì)數(shù),平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,大值,小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間,背光亮度,背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動(dòng)批次分類,測(cè)量方法,維護(hù)方式
探測(cè)單點(diǎn)接觸恒壓型(LEP-J,LHP-J)
顯示方式數(shù)字(背光LCD 128 x 64點(diǎn),小顯示位數(shù)0.1μm)
外部輸出可以輸出到PC(USB或RS-232C)
電源供應(yīng)電池1.5V(AA堿性)x 4
能量消耗80mW(背光關(guān)閉時(shí))
電池壽命100小時(shí)(無(wú)背光,連續(xù)使用)
工作環(huán)境溫度0-40°攝氏度
尺寸/質(zhì)量75(W)x 145(D)x 31(H)毫米,0.34千克

零件

  • 身體
  • 標(biāo)準(zhǔn)板x 5(50μm,100μm,300μm,500μm,1000μm)
  • 零板支架(鐵基/非鐵基)
  • 鐵探針(LEP-J)
  • NFe探針(LHP-J)
  • 探頭適配器
  • 數(shù)據(jù)管理軟件(CD-R)
  • PC電纜(RS-232C)
  • RS-232C USB轉(zhuǎn)換器
  • 儲(chǔ)物箱
  • 說(shuō)明書(shū)

 

SWT-9100膜測(cè)厚儀日本進(jìn)

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LZ-373雙膜測(cè)厚儀日本凱特

LZ-373雙膜測(cè)厚儀日本凱特科學(xué)研究所$r$n雙

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