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當(dāng)前位置：北京北信未來電子儀器有限公司>>檢測分析儀器>>工業(yè)分析儀器>> JC03-LT-3單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號JC03-LT-3

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地北京市

更新時間：2022-02-16 23:00:01瀏覽次數(shù)：63次

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單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀
該儀器參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；
可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；
配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀  特點:

該儀器參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；

測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；

可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；

配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；

余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍數(shù)約25；

測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；

 

 

 

 

                                                  

 

  

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

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