真理光學(xué)粒度分析儀華麗亮相API China 2019

2022-07-18 22:10:01來源：珠海真理光學(xué)儀器有限公司閱讀量：5042

導(dǎo)讀：

2019年5月8日，第82屆中國醫(yī)藥原料藥/中間體/包裝/設(shè)備交易會（API China 2019）在杭州博覽中心開幕。珠海真理光學(xué)儀器有限公司攜粒度分析儀華麗亮相，為制藥行業(yè)用戶提供粒度檢測技術(shù)方案！

LT3600激光粒度分析儀是真理光學(xué)技術(shù)團隊基于用戶對高性能儀器的需求而開發(fā)的粒度儀，支持干濕法兩用，可以勝任更寬粒度范圍的檢測要求。LT3600加持了真理光學(xué)的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術(shù)及偏振濾波技術(shù)，測量范圍為0.02um-3600um，測量速度高達每秒10000次，測量時間典型值小于10秒，用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得準(zhǔn)確可靠的粒度結(jié)果。該儀器測量時無需更換透鏡，也無需使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn)，操作簡便，智能化程度高。

Nanolink S900是真理光學(xué)技術(shù)團隊開發(fā)的新一代高速納米粒度分析系統(tǒng)，被廣泛應(yīng)用于有機及無機顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠束、病毒抗體、蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征。SZ900除了具備顆粒表征功能外，還能測量膠體的Zeta電位。

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