| 電容漏電流測(cè)試儀 型號(hào)：VSN/AT-680SE | 貨號(hào)：ZH5326 |
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 電容漏電流測(cè)試儀是采用高性能微處理器控制的電容漏電流測(cè)試儀。數(shù)控測(cè)試電壓：1V~650V，6量程測(cè)試，使漏電流精度提高到2%，它可以測(cè)試10nA~20mA的電流，Z大顯示位數(shù)1999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)15次/秒，超高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了方案，并且可完替代模擬指針表。 儀器擁有分選功能，分選訊響設(shè)置，還可配備Handler接口，應(yīng)用于自動(dòng)分選系統(tǒng)完成自動(dòng)流水線測(cè)試。并可選配RS232C接口，用于遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集與分析。 規(guī)格: 漏電流和絕緣電阻雙參數(shù)測(cè)試。 Z大讀數(shù)：1999 漏電流測(cè)試范圍：10nA-20mA 漏電流基本準(zhǔn)確度：1% 數(shù)控輸出任意負(fù)電壓：1.0VDC~650VDC，<100V：電壓步進(jìn)量0.1V，≥100V：電壓步進(jìn)量1V?；緶?zhǔn)確度：1% Z大充電電流：200mA±20mA。 六量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試。 三檔測(cè)試速度：高速15次/秒，中速7次/秒，慢速3次/秒。 內(nèi)建定時(shí)器，自定義充電時(shí)間，定時(shí)時(shí)間：0秒~999.9秒。 雙顯示：同時(shí)顯示漏電流、偏差（ΔABS）、相對(duì)偏差（Δ%）和分選輸出結(jié)果(GD/NG)。 多種觸發(fā)方式：內(nèi)部觸發(fā)、手動(dòng)觸發(fā) 性能特征: 高亮度，超清晰四色VFD顯示，多種參數(shù)同時(shí)顯示。 充電測(cè)試自動(dòng)切換。 峰值保持功能。 量程開路清零功能。 比較器（分選）功能：可對(duì)被測(cè)件進(jìn)行GD/NG判斷。 比較器輸出：可通過RS232C或選配Handler接口輸出分選結(jié)果。 訊響：可設(shè)置訊響開關(guān)。 訊響和顯示可調(diào)：用戶可以根據(jù)自己需要設(shè)置GD/NG訊響和調(diào)節(jié)顯示亮度。 可選RS232C串行接口。 可選Handler接口。 可選腳踏開關(guān)。 應(yīng)用: 電解電容器生產(chǎn)。 晶體管漏電流檢測(cè)。 電容器檢驗(yàn)等。 |  |
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