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半價優(yōu)惠 單晶少子壽命測試儀新款LDX-GZ-LT-2

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產(chǎn)品型號:LDX-GZ-LT-2
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:其它電子測量儀器
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2025-03-16 08:32:58
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山東利達信儀器儀表設備有限公司

其他

  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:2610條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊時間:2016-01-23
  • 最近登錄:2023-11-08
  • 聯(lián)系人:周娜 ( 女士 )
產(chǎn)品簡介

半價優(yōu)惠單晶少子壽命測試儀新款型號:LDX-GZ-LT-2LDX-GZ-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命

詳情介紹
半價優(yōu)惠 單晶少子壽命測試儀新款

型號:LDX-GZ-LT-2
LDX-GZ-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導衰退法的原理設計,由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
技 術 指 標
測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm
可測單晶少子壽命范圍 5μS~7000μS
配備光源類型 波長:1.09μm;余輝<1 μS;
閃光頻率為:20~30次/秒;
閃光頻率為:20~30次/秒;
高頻振蕩源 用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
前置放大器 放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz
儀器測量重復誤差 <±20%
測量方式 采用對標準曲線讀數(shù)方式
儀器消耗功率 <25W
儀器工作條件 溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
可測單晶尺寸 斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
配用示波器 頻寬0—20MHz;
電壓靈敏:10mV/cm;
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