楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn),是大學(xué)《物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)》中一個(gè)經(jīng)典的光學(xué)實(shí)驗(yàn)。1801年，托馬斯·楊(Thomas Young，1773-1829)進(jìn)行了一次光的干涉實(shí)驗(yàn)，即的楊氏雙孔干涉實(shí)驗(yàn)，并肯定了光的波動(dòng)性。隨后在他的論文中以干涉原理為基礎(chǔ)，建立了新的波動(dòng)理論，并成功解釋了牛頓環(huán)，精確測定了波長。在楊氏雙縫實(shí)驗(yàn)中，由于狹縫s的存在，且s尺寸很小，光波到達(dá)s就成為發(fā)射柱面波的兩個(gè)次波源。它們又各發(fā)出一個(gè)柱面形次波。由于這兩個(gè)次波來自同一個(gè)波面，因此它們的頻率相同;由于s1與s2距離很近，因此振動(dòng)方向近似一致;又由于s1和s2的振動(dòng)位相差保持一定，所以這兩列光波滿足相干條件，在屏幕上形成干涉條紋。這是利用分波陣面法獲得相干光波的典型光學(xué)實(shí)驗(yàn)。
學(xué)生通過實(shí)際搭建楊氏雙縫干涉籠式系統(tǒng)，不斷解決實(shí)驗(yàn)過程中遇到的各種問題，可以增強(qiáng)對理論知識的了解，對楊氏雙縫干涉系統(tǒng)的光學(xué)原理有更加深刻的認(rèn)識。OMTOOLS提供楊氏雙縫干涉籠式系統(tǒng)套件，可供各類光學(xué)實(shí)驗(yàn)室供教學(xué)或科研使用。

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