CTS-1008plus 型TOFD成像超聲探傷儀
CTS-1008plus 型TOFD成像超聲探傷儀成功地將常規(guī)PE檢測的上等性能和TOFD成像檢測技術(shù)上乘結(jié)合在一起。其常規(guī)PE檢測支持通用的脈沖反射式超聲探傷，性能優(yōu)異、功能強大實用、具備多種上等性能和支持多種檢測標準及應(yīng)用；而TOFD成像檢測技術(shù)則是利用超聲衍射時差技術(shù)工作，配備本公司研制的復(fù)合材料探頭，對缺陷具有檢出率高，定量定位精度高，檢測簡單快捷，檢測效率高等特點；同時該款儀器還可以外接多款掃查設(shè)備:SCQcscan-1、SCQtofd-1、SCQtofd-2，支持B、C、D等多種成像方式。整機重量僅1.4kg，是目前國內(nèi)重量*輕的TOFD檢測儀，滿足您便攜式移動檢測及各種特殊檢測場合的作業(yè)需要。
CTS-1008plus 型TOFD成像超聲探傷儀成像技術(shù)(詳情見技術(shù)參數(shù))。
支持常規(guī)PE掃查后，TOFD復(fù)核、**測量缺陷尺寸和輪廓，評估缺陷特性及走向；支持TOFD成像后，常規(guī)PE確認。
*高采樣率可達640MHz，測量分辨率0.1mm，*小顯示范圍2mm。
工作頻率0.5-20MHz，靈敏度余量高達62dB，低頻更有更佳的信噪比。
高亮度、高分辨率(640x480) 彩色TFT液晶顯示屏，實現(xiàn)*佳的讀測結(jié)果，國內(nèi)手持儀器無出 其右。
帶有調(diào)節(jié)選項的高性能脈沖方波發(fā)生器，和探頭實現(xiàn)*佳的匹配(可實現(xiàn)無感線圈探頭的優(yōu)良勵),無論是檢測高衰減材料還是薄工件均能帶來*優(yōu)的性能。方波發(fā)生器電壓極性可提供正、負兩種，亦可同時提供負方波和負尖脈沖。
體積小，重量輕，鋰電池供電，可連續(xù)工作6小時以上。
具備LAN網(wǎng)絡(luò)接口，實現(xiàn)數(shù)據(jù)的遠程傳輸及儀器控制。當儀器做為方波發(fā)生器時，可提供對儀器參數(shù)的控制。
兩維增量型編碼器接口，實現(xiàn)**的位置檢測成像(B、C、D掃)。
同步模擬RF波形輸出，輸出阻抗50Ω，可做為數(shù)據(jù)采集及探頭測試的信號源。
高速USB接口，可外接U盤實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲和轉(zhuǎn)存；外掛鼠標能實現(xiàn)對圖像化檢測結(jié)果實現(xiàn)** 的分析。
內(nèi)置充電功能；電池、直流供電自動檢測顯示；充電、供電自動切換，充電溫度雙重保護；應(yīng) 用戶需求可配外置充電器。
多種軟件功能,覆蓋檢測的方方面面；的、開創(chuàng)性的鍵盤及旋鈕調(diào)節(jié)方式， 使探傷倍 感輕松無憂；人性化的菜單設(shè)計、多種輸入法輸入方式、中英文語言菜單等。
自動測試探頭頻率、自動優(yōu)化方波寬度，實現(xiàn)探頭和儀器的*優(yōu)配合。
圖像化厚度報警功能、波形連續(xù)存儲功能及多種波形測量模式。
自動測量儀器指標功能及波峰自動搜索功能。
報警時閘門內(nèi)波形顏色改變、DAC曲線報警顏色提醒、DAC曲線自動延伸。
增加API 5UE 和 AWS D1.1功能。
CTS-1008plus 型TOFD成像超聲探傷儀
| 脈沖類型 | 正方波脈沖，幅度及寬度可調(diào) |
| 脈沖前沿 | <10ns |
| 脈沖寬度 | 30～1000ns連續(xù)可調(diào)，5ns步進，高頻時自動優(yōu)化為脈沖激勵 |
| 脈沖幅度 | 發(fā)射電壓25V～250V連續(xù)可調(diào)，25V步進 |
| 阻抗 | 400、80Ω |
| 重復(fù)頻率 | 25～1000Hz可調(diào)節(jié) |
| 檢波方式 | 數(shù)字檢波 |
| 采樣頻率 | 160MHz(硬件) |
| 頻帶寬度 | 0.5～20MHz（寬帶）、1～5MHz（窄帶） |
| 動態(tài)范圍 | >32dB |
| 垂直線性誤差 | <3% |
| 水平線性誤差 | <0.2% |
| 分辨力 | >36dB |
| 靈敏度余量 | >62dB |
| 波形顯示方式 | 射頻波 |
| 聲速范圍 | 1000～15000m/s |
| 檢測范圍 | 0.0～10000mm (鋼縱波)。連續(xù)可調(diào)，*小步進值 0.1mm |
| 脈沖移位 | 脈沖移位: -7.5～3000μs |
| 觸發(fā)方式 | 編碼器觸發(fā)（*大分辨力0.125mm） |
| 等效輸入噪聲 | 20×10-9 V/√HZ |
| 衰減精度 | <±1dB/20dB |
| 成像模式 | 根據(jù)儀器的設(shè)置和掃查方式顯示B掃、D掃、TOFD成像 |
| 記錄方法 | 原始數(shù)據(jù)記錄 |
| 掃查長度 | 單次*長5m，自動滾屏,多次無限制 |
| *小檢測厚度 | >6mm，需配合本司探頭 |
| 掃查架 | 手動、手推、磁吸、可為用戶定做 |
| 探頭 | 復(fù)合材料，詳細參數(shù)見規(guī)格表 |
| 在線/離線數(shù)據(jù)分析 | 恢復(fù)和回放掃查記錄的A掃波形 |
| 缺陷尺寸和輪廓、缺陷標記及記錄 | |
| 直通波拉直、底波拉直、差分、對比度調(diào)整、SAFT(離線) | |
| 數(shù)據(jù)報告 | 直接打印校驗表、A掃波形、B掃圖像、D掃圖像、TOFD圖像 |
| 接口 | LAN、USB、兩維編碼器 |
| 控制 | 前面板、旋鈕、鼠標、鍵盤 |
| 可外接設(shè)備 | USB、鍵盤、鼠標，通過USB或LAN連接打印機、U盤 |
超聲 TOFD探頭
超聲 TOFD探頭*新推出高分辨率縱波探頭,產(chǎn)品性能指標達到水平（包括振蕩周期在一個半周期以內(nèi)），特別適合TOFD檢測應(yīng)用，滿足GB/T 23902-2009、JB/T4730 附錄、BS 7706等標準對TOFD探頭的性能要求。
超聲 TOFD探頭
| 探頭 | 測試設(shè)備 |
| 測試條件 | 測試結(jié)果 |
| 型號 | 頻率 | 晶片直徑 |
| 10N3-T1 | 10MHz | 3mm |
| 10N6-T1 | 10MHz | 6mm |
| 7.5N3-T1 | 10MHz | 3mm |
| 7.5N6-T1 | 7.5MHz | 6mm |
| 5N6-T1 | 5MHz | 6mm |
| 5N12-T2 | 5MHz | 12mm |
| 3.5N10-T2 | 3.5MHz | 10mm |
| 2.5N6-T1 | 2.5MHz | 6mm |
| 2.5N12-T2 | 2.5MHz | 12mm |
| 1N15-T3 | 1MHz | 15mm |
| 型號 | 鋼中縱波折射角 | 匹配探頭外殼型號 |
| ST1-45L | 45° | T1 |
| ST1-60L | 60° | T1 |
| ST1-70L | 70° | T1 |
| ST2-45L | 45° | T2 |
| ST2-60L | 60° | T2 |
| ST2-70L | 70° | T2 |
| ST3-45L | 45° | T3 |
| ST3-60L | 60° | T3 |
| ST3-70L | 70° | T3 |
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