Moxtek側(cè)窗X射線源用于XRD和成像應用。小光斑尺寸和短光斑到物體的距離(min.7mm)允許在成像應用中使用高幾何放大率。較小的光斑尺寸在檢測器處直接轉(zhuǎn)化為較高的空間分辨率。大的x射線錐角在檢測器處提供了大的觀察區(qū)域。與端窗管相比,側(cè)窗管的x射線通量高出約30%,這有助于在依賴于計數(shù)低光子數(shù)的應用中,如x射線衍射(XRD)。
- 源與探測器的緊密耦合
- 便攜、多功能
- 易于集成
- 長壽命
- 采樣時間短
- 靈活的形狀因子
產(chǎn)地:美國
管材類型:金屬陶瓷
陰極類型:鎢絲
工作溫度:-10º至+50ºC
儲存溫度:-25º至+85ºC
冷卻:傳導
重量:~350克
可用靶點:Ag、W、Rh
高壓極性:接地陽極
高壓電位:4至50kV6-12 VDC
束流:5至200µA
功率:max.4瓦
焦點尺寸:500至800µm FWHM(典型)
窗戶:鈹,0.25mm厚或0.125
輸入功率:6-12 VDC
聚焦到物體的距離:2.2mm
材料表征和鑒定(XRF)
—金屬和合金分選
—采礦和地質(zhì)
—環(huán)境分析
—油漆中的鉛
—法規(guī)(RoHS/WEEE)
—藝術和考古
—R&D
X射線成像
—安全
—射線檢測
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