高低溫試驗(yàn)箱是為了確定產(chǎn)品在高溫和低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸、貯存的適應(yīng)性 。高溫試驗(yàn)會(huì)改變材料的物理性能或尺寸，因此會(huì)暫時(shí)或地?fù)p壞產(chǎn)品性能，了解與受試產(chǎn)品有關(guān)的高溫暴露后可能出現(xiàn)的問(wèn)題，有助于確定高溫試驗(yàn)是否適用于受試產(chǎn)品。
低溫幾乎對(duì)所有的機(jī)體材料都有不利的影響。對(duì)暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品，由于低溫會(huì)改變其組成材料的物理特性，因些可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)或性的損害。

產(chǎn)品特點(diǎn)
試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方；
該試驗(yàn)箱主要功能元器件均采用世界配置（含金量高）、技術(shù)原理可靠、噪音與節(jié)能得到控制——其性能可替代國(guó)外同類產(chǎn)品；
零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長(zhǎng)時(shí)間、高頻率的使用要求；
設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康；
控制柜內(nèi)所有電線均有專用設(shè)備打印制作的序號(hào)和編號(hào)，線路清楚，一目了然。
參數(shù)規(guī)格
● 試樣限制：試驗(yàn)設(shè)備；
● 禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；
● 腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
● 生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
● 強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
● 放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
● 劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
● 試驗(yàn)或儲(chǔ)存過(guò)程中可能產(chǎn)生易燃、爆炸、揮發(fā)、劇毒、腐蝕及放射性物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
● 標(biāo)準(zhǔn)型恒溫恒濕試驗(yàn)箱容積、尺寸和重量:
● 標(biāo)稱內(nèi)容積：80L /100L / 150L /225L / 408L /800L / 1000L
● 內(nèi)箱尺寸W×H×D(cm):80L=40×50×40
● 外箱尺寸W×H×D(cm):80L=65×173×130
● 重量:約200KG以內(nèi)

性能參數(shù)
1.測(cè)試環(huán)境條件：環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下
2.測(cè)試方法：
GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3.溫度范圍：-20℃~+150℃/-40℃~+150℃/-70℃～+150℃
4.控制精度： a.溫度：±0.2℃（控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差） b.濕度：±2.5%（控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）
5.溫度波動(dòng)度：≤0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)溫度和溫度之差的一半）
6.溫度誤差：≤±1℃（工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測(cè)的平均溫度）
7.溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)溫度和溫度之差的算術(shù)平均值）
8.升溫時(shí)間：常溫 ~ 150℃ ≤ 20min
9.降溫時(shí)間：常溫 ~ －40℃ ≤ 75 min
10.內(nèi)外箱材質(zhì)：內(nèi)箱SUS 304 不銹鋼，外箱冷軋鋼板靜電噴涂
11.控制方法/控制器：高精度微電腦控制器，7" TFT真彩LED液晶觸摸屏
12.壓縮機(jī)：全密式原裝法國(guó)泰康壓縮機(jī)