東莞市正臺測試儀器有限公司

低氣壓測試

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產(chǎn)品型號ZT-CTH-225Y

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地東莞市

更新時間:2022-04-22 15:30:02瀏覽次數(shù):35次

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低氣壓測試國防工業(yè),航天工業(yè)自動化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下,模擬高海拔、高空、(高原地區(qū))氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗,并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。

低氣壓測試-詳細資料歡迎垂詢:

 

一、特點:

1. 平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內(nèi)保持一定的壓

   力,并采用智能型數(shù)字溫度調(diào)節(jié)儀進行溫度的顯示與控制設定,故能*穩(wěn)定使

   用.

2. 全新*的造型設計,外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取日本、西德*技術之精華設

   計制造.

3. 采用全毛細管,自動負載容量調(diào)整系統(tǒng)技術,較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低溫

   自由轉(zhuǎn)換、設置、顯示更加精確,升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻,為使用者節(jié)約

   寶貴時間.

 

 


二、低氣壓測試性能:

1. 溫度范圍: -70~ 150℃/-50~ 150℃/-40~ 150℃/-20~ 150℃/0~ 150℃

2. 控制穩(wěn)定度 : ±0.5℃

3. 分布均勻度 :±1.5℃

5. 溫度波動度: ±0.5℃.

6. 溫度均勻度: ±1.5℃.

7. 氣壓范圍:常壓(1.01325×105 Pa)~0.5kPa

u 壓力偏差:當常壓~壓力≥40kPa時,誤差 ≤±2.0kPa;

u 當 2kPa≤壓力<40kPa時,誤差≤±5%;

u 當壓力≤2kPa~0.5kPa時,誤差 ≤±0.1kPa;

u 降壓速率: 常壓~0.5KPa ≤45min(常溫、箱內(nèi)干燥)

u 壓力恢復速率: ≤10kpa/min;

8. 測時間設置:0~99.59 Hr.

 

三、機械結構

1. 圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準, 可防止試驗中

   結露滴水設計;

2. 圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計,精密設計,氣密性良好;

3. 自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內(nèi)

   有大于常壓時測試們會被反壓保護;

4. 型packing,箱內(nèi)壓力愈小時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳

   統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命;

5. 實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣

   (partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度;

6. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。

 

四、選型及工作尺寸:

ZT-CTH-80LY       W寬40XH高50XD深40cm

ZT-CTH-120Y       W寬50XH高60XD深40cm

ZT-CTH-150Y      W寬50XH高60XD深50cm

ZT-CTH-225Y       W寬60XH高75XD深50cm

ZT-CTH-306Y       W寬60XH高85XD深60cm

ZT-CTH-408Y       W寬60XH高85XD深80cm

ZT-CTH-800Y      W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000Y      W寬100XH高100XD深100cm

 

五、控制器系統(tǒng):

1. 采用進口彩色型7寸或10.4寸*微電腦液晶顯示觸控式屏幕型,中英文表

   示可程控器。

2. 微電腦 P.I.D 自動演算控制溫度.

3. 采用指針顯示正負壓表.

4. 全自動過程控制,操作簡單.

 

六、安全保護裝置:

1.工作室超溫保護裝置.

2.加熱器短路、過載.

3.壓縮機過流過熱保護裝置.

4.漏電短路器保護開關.

5.鼓風電機過載過流

6.壓縮機壓力保護裝置

 

七、低氣壓測試執(zhí)行與滿足標準:

1. GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件.

2. GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件.

3. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則》.

4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方

   法》 .

5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣

   壓綜合試驗方法》 .

6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣

   壓綜合試驗方法》 .

7. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗.

8. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序.

 

 

 

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