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X熒光光譜儀屬于的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式技術為基礎,結合國外相關新的技術發(fā)展成果,研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型。
EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術達到水平。
應用領域
專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應用。
性能優(yōu)勢
1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優(yōu)于標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
2. 測試精度更高,檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。
3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發(fā)的數字多道技術,其線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大大提高了設備的穩(wěn)定性。
4. 一鍵式智能化操作
專業(yè)軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。
5. 強大的自動化功能
①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng),光程更短,光路損失更少,激發(fā)效果更佳。
8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。
9. 安全警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng),通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。
儀器配置
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
技術參數
型號:EDX3600K
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測時間:10秒以上
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV
激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
測井環(huán)境:超真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下
濾光片:6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來說,檢出限達5~500ppm
真空系統(tǒng):超真空系統(tǒng),10秒可到10Pa
數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率
測試臺:360°電動旋轉式
保護系統(tǒng):樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:*的樣品杯設計,自帶壓環(huán),可防止樣品晃動
數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度:15℃~30℃
軟件優(yōu)勢
采用公司新的能譜EDXRF軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。
定性與定量分析
(一)、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎,因為只有從儀器獲得的譜圖中辨認峰譜,才能知道待測試樣中還有那些元素,并且分析待測元素的主要譜線,以及常見的干擾譜線,以便選擇合適的測量譜線,用于定量分析方法,確定譜線的重疊校正方法,選擇校正元素,終達到準確測試樣品的效果。
定性分析的方法:
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確,可以用已知元素的樣品進行測試,觀察是否能夠正確識別樣品中的元素。如果不正確,需要重新建立能量刻度。
2、 先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜,可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線,一般情況下,52#(Te,碲)元素以前的元素,大多測試其K線,但35#~52#之間的元素,其L線也可以被檢測出來,同時它的L線會對輕元素測量產生影響。52#以后的元素一般測試其L線。
4、 K線一般有K線必然有K線,線的強度比例在5:1左右,L線必然有L、L…等4條線,在判斷是否是某元素時必須考慮這一因素。
5、 觀察各個線之間的干擾,找到干擾的元素線系,并確定重疊干擾線之間的影響程度。
(二)、定量分析
X熒光的定量分析可以簡化為以下公式,它受四種因素影響:
Ci=KiIiMiSi
式中:C為待測元素的濃度,下標I式待測元素;K為儀器的校正因子;I式測得的待測元素X射線熒光強度,經過背景、譜重疊和死時間校正后,獲得的純強度。M式元素間的吸收和增強效應校正。S與樣品的物理形態(tài)有關,如試樣的均勻性、厚度、表面結果等,要通過制樣來消除。
根據以上的簡化公式,可以將定量分析的方法分為以下幾個步驟:
① 根據樣品的物理形態(tài)和對分析精度與準確度要求,決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后,應了解制樣的誤差主要因素,應該在方法中加以注意。
② 用標準樣品確定的分析條件,如:X射線管的管壓,管流,原級譜濾光片,測量時間等。
③ 確定強度的提取方法。
④ 制作工作曲線。
⑤ 用標準樣品驗證分析方法的可靠性及分析數據的不確定度。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業(yè),注冊資本23088萬。旗下?lián)碛斜本┌铞蝹I(yè)技術開發(fā)有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家全資子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司專業(yè)從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產和銷售。