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廣東天瑞儀器有限公司
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天瑞金屬鍍層測(cè)厚儀_天瑞儀器
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
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- 蘇州市 所在地
訪問(wèn)次數(shù)：5更新時(shí)間：2022-04-27 14:40:02
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
早期，X熒光鍍層測(cè)厚儀基本被國(guó)外廠家（德國(guó)費(fèi)希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶(hù)可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做光譜儀，是一家專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測(cè)方面，*打破國(guó)外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器，在測(cè)試精度可以與進(jìn)口設(shè)備PK過(guò)程中不落下風(fēng)。
產(chǎn)品介紹
天瑞金屬鍍層測(cè)厚儀_天瑞儀器
測(cè)試方法一般有以下幾種方法：1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞金屬鍍層測(cè)厚儀_天瑞儀器 具如下特點(diǎn)：1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)，微小測(cè)試點(diǎn)更；7. X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿(mǎn)足客戶(hù)要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護(hù)成本更低。 測(cè)試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶(hù)的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如下圖。
銅鍍鎳件X射線熒光測(cè)試譜圖 樣 品 名 成分Ni(%) 鍍層Ni(um)
吊扣 100 19.321
吊扣2# 100 19.665
吊扣3# 100 18.846
吊扣4# 100 19.302
吊扣5# 100 18.971
吊扣6# 100 19.031
吊扣7# 100 19.146
平均值 100 19.18314
標(biāo)準(zhǔn)偏差 0 0.273409
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 0 1.425257
銅鍍鎳件測(cè)試值結(jié)論實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)ROHS檢測(cè)儀（EDX1800B），鍍層測(cè)厚儀（Thick800A），氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GCMS）,等離子發(fā)射光譜儀(ICP2060T),x射線測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)設(shè)備，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS測(cè)試儀，液相色譜儀，ROHS2.0新增4項(xiàng)分析儀，手持式礦石分析儀，雙酚A檢測(cè)儀，X射線熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS儀器，手持式合金分析儀（EXPLORER5000）等分析儀器，涉及的儀器設(shè)備主要有Thick8000、Thick800A 、EDX1800B
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