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安徽鍍層測厚儀THICK800A,天瑞儀器
上照式
測試組件可升降
高精度移動平臺
小孔準直器
高分辨率探測器
可視化操作
自動定位高度
自動尋找光斑
鼠標定位測試點
良好的射線屏蔽
超大樣品倉
測試口安全防護
安徽鍍層測厚儀THICK800A,天瑞儀器 技術(shù)指標
X射線激發(fā)源:5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測器及分辨率:SDD探測器,分辨率140±5eV
分析元素范圍:原子序數(shù)16(S)~92(U)
分析元素及層數(shù):一次可同時分析多達24種元素及5層鍍層
分析厚度范圍:檢測覆蓋層厚度一般在50μm以內(nèi)
檢出限:鍍層金屬元素厚度薄可達0.005μm
定位精度:0.001mm
測量時間:10s及以上
樣品平臺移動范圍:120mm×120mm
樣品腔升降平臺移動高度:0~150mm
儀器配置
硬件:主機壹臺,含下列主要部件
1.X光管 2.半導體探測器
3.放大電路 4.高精度樣品移動平臺
5.高清晰攝像頭 6.高壓系統(tǒng)
7.上照、開放式樣品腔 8.雙激光定位
9.玻璃屏蔽罩
軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
工作環(huán)境要求
環(huán)境溫度要求:15℃~30℃
環(huán)境相對濕度:<70%
工作電源:交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾