廣東天瑞儀器有限公司

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鍍銅測(cè)厚儀_天瑞儀器
參考價(jià): 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào)
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  • 生產(chǎn)商 廠(chǎng)商性質(zhì)
  • 蘇州市 所在地

訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):14更新時(shí)間:2022-04-27 14:40:02

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X熒光光譜儀

ROHS測(cè)試儀

鍍層測(cè)厚儀器

手持式光譜儀

糧食重金屬快速檢測(cè)儀

電感耦合等離子體發(fā)射光譜

直讀光譜儀

氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GC-MS

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀

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水質(zhì)在線(xiàn)分析儀

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煙氣揮發(fā)性有機(jī)物在線(xiàn)監(jiān)測(cè)

大氣重金屬在線(xiàn)分析儀

鞋材皮革檢測(cè)儀

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碳硫分析儀

飛行時(shí)間質(zhì)譜聯(lián)用儀

石化檢測(cè)儀器

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
鍍銅測(cè)厚儀_天瑞儀器 經(jīng)過(guò)多年的積累,在鍍層厚度檢測(cè)方面,我們一直保持國(guó)內(nèi):主要原因是我們的性?xún)r(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力,這個(gè)優(yōu)勢(shì)不僅僅體現(xiàn)在購(gòu)買(mǎi)價(jià)格上,也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上。
產(chǎn)品介紹

鍍銅測(cè)厚儀_天瑞儀器

儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí)。
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052 
2 X-ray法(X射線(xiàn)法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3 庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

鍍銅測(cè)厚儀_天瑞儀器廠(chǎng)家優(yōu)勢(shì) 

天瑞公司有完善的質(zhì)量管理體系,從進(jìn)口核心零部件的檢測(cè)開(kāi)始,到儀器的組裝,數(shù)據(jù)的標(biāo)定及考核,均嚴(yán)格把關(guān),能夠很好的控制產(chǎn)品的質(zhì)量。公司嚴(yán)格按ISO9001質(zhì)量體系的要求,進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的管理,每道工序進(jìn)行嚴(yán)格的檢驗(yàn),絕不允許不合格的流到下到工序;不合格的產(chǎn)品不出廠(chǎng),堅(jiān)決做到“三不”和“三不放過(guò)”,確保產(chǎn)品質(zhì)量可靠,用戶(hù)使用放心。

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度分析;RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè);
合金成分分析;

測(cè)試步驟

1.每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick”:用戶(hù)使用“Administrator”,密碼:skyray
2.進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件”點(diǎn)擊“確定”,即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)
3.選擇“工作曲線(xiàn)”如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類(lèi)推
4.放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),如300以上)。
5.待測(cè)樣品測(cè)試放入待測(cè)的樣品,通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀(guān)察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線(xiàn)的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱(chēng)十字光標(biāo))來(lái)定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開(kāi)始”,輸入樣品名稱(chēng)后“確定”。
6.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。
注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線(xiàn)測(cè)試。 

技術(shù)參數(shù) 

1   分析元素范圍:S-U
2   可分析多達(dá)3層以上鍍層
3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm
4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm
5   定位精度:0.5mm5   測(cè)量時(shí)間:30s-300s
6   計(jì)數(shù)率:1000-8000cps
7  儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個(gè)范圍內(nèi),才能檢測(cè)。0.5-10um的,偏差是5%,就是說(shuō)真值是1um,用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。

性能優(yōu)勢(shì)

下照式:可滿(mǎn)足各種形狀樣品的測(cè)試需求準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換:不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性鍍銅測(cè)厚儀新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率 

硬件配置   
                                    
1. 探測(cè)器
2. 高、低壓電源
3. X光管                             
 4. MCA多道分析器
5. 高精密攝像頭
6. 移動(dòng)平臺(tái)(自動(dòng))
7. 準(zhǔn)直器
8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品 
 



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