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廣東天瑞儀器有限公司
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
金屬鍍層測厚儀_ 天瑞儀器 測量原理比較測試方法 測試原理
金相法 利用金相顯微鏡放大橫截面的原理，對鍍層厚度放大，進行觀測及測量。
庫侖法 利用適當?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層，根據(jù)所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。
X射線光譜法 利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產(chǎn)生的離散波長和能量的二次輻射強度與覆蓋層單位面積質(zhì)量之間存在一定的關(guān)系。根據(jù)校正標準塊提供的單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正這一關(guān)系，給出覆蓋層線性厚度。
2、標準、要求、儀器的選型測試方法 參考標準 樣品要求 儀器
金相法 ASTM B487；GB/T 6462 鍍層厚度不小于1um 切割機、真空浸漬儀、研磨機、金相顯微鏡
庫侖法 ASTM B764；GB/T4955 平面不小于5mm2 電解測厚儀
X射線光譜法 ASTM B568； GB/T16921 測試面積大于0.05×0.25mm X-ray鍍層測厚儀
3、測試因素比較
金相法 庫侖法 X射線光譜法
測試范圍 ＞1um 0~35um 重金屬0~10um 、其它0~35um
測試精度 高 稍差 高
制樣 制樣復(fù)雜 配置不同電解液 簡單
工件損傷 有損 有損 無損
操作方法 操作復(fù)雜 復(fù)雜 簡單
測試效率 非常低 低 高
層數(shù) 不限 單層和Cr/Ni/Cu復(fù)合鍍層 多5層
鍍層預(yù)知 不需要 需要 需要
合金鍍層厚度 可測 不可測 可測
合金成分 EDS聯(lián)用 不可測 可測
溶液成分測試 不可測 不可測 可測
人為因素 影響大 影響大 影響小
價格 較高 低 高
金屬鍍層測厚儀_ 天瑞儀器 應(yīng)用X熒光法的優(yōu)勢1.x射線電鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理2.可快速對樣品做定性分析3.對樣品可做半定量或準定量分析4.譜線峰背比高,分析靈敏度高5.不破壞試樣,無損分析6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)7.設(shè)備可靠、維修、維護簡單8.快速：一般測量一個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。9.無損：物理測量，不改變樣品性質(zhì)10.準確：對樣品可以分析11.直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快12.環(huán)保：檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水 5.X熒光鍍層測厚儀Thick800A儀器介紹Thick800A是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)可靠及時。儀器性能特點1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊6.鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護 儀器參數(shù)規(guī)格1 分析元素范圍：S-U2 同時可分析多達5層以上鍍層3 分析厚度檢出限達0.005μm4 多次測量重復(fù)性可達0.01μm5 定位精度：0.1mm6 測量時間：30s-300s7 計數(shù)率：1300-8000cps8 Z軸升降范圍：0-140mm9 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 儀器軟件優(yōu)勢: 儀器采用天瑞軟件研發(fā)團隊研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式，測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。
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