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膜厚測(cè)試光譜儀Thick800A,天瑞儀器
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 蘇州市 所在地

訪問(wèn)次數(shù):8更新時(shí)間:2022-04-27 14:50:02

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
膜厚測(cè)試光譜儀Thick800A,天瑞儀器 俗稱X熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀,電鍍層厚度分析儀,金屬鍍層測(cè)厚儀,電鍍厚度測(cè)量?jī)x,電鍍厚度檢測(cè)儀,連續(xù)度檢測(cè)儀,光譜鍍層測(cè)厚儀,鍍層厚度分析儀,鍍層測(cè)量?jī)x,電鍍層分析儀等;
產(chǎn)品介紹

 

膜厚測(cè)試光譜儀Thick800A,天瑞儀器  應(yīng)用范圍

測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成
測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
應(yīng)用群體主要集中在:電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等;
原理:X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長(zhǎng)范圍在0.1-100Å;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過(guò)程

膜厚測(cè)試光譜儀Thick800A,天瑞儀器 儀器介紹

Thick800A光譜型膜厚測(cè)試儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

標(biāo)準(zhǔn)配置

開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

,鉑,銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行,飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)



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