I試片
定量品質(zhì)試片
（I）是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片，I試片用于
1.將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場方向和相對(duì)的磁場強(qiáng)度
3.平衡多向磁場
a）標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場
件號(hào)：519630 型號(hào)：KSC-230
件號(hào)：521048 型號(hào)：KSC-430
說明：
標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸
b）小型I試片
與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個(gè)圓，可切割開，單獨(dú)使用
件號(hào)：519631
型號(hào)：KSC-4-230
說明：小型I試片，每片試片有4個(gè)基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸
c）不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)
件號(hào)：519632 型號(hào)：KSCT-234
說明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.002英寸，試片背面帶膠，可直接貼在工件上
件號(hào)：521049 型號(hào)：KSC4-234
不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸
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