該試塊具有不同深度的臺階形狀，主要用于測定20°探頭（直探頭）的距離幅度特性。
產(chǎn)品關(guān)鍵字：階梯試塊 帶把階梯試塊/TB/T2340-2000帶把階梯試塊
其它試塊：
CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊（階梯：3-22mm）
CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊（全套試塊共6塊）
CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊（全套試塊分4塊）
奧氏體鍛件試塊（全套27塊，產(chǎn)品需來料加工，或者定料代加工）
CSK-IA超聲波檢測試塊
不銹鋼、鋁合金CSK-IA超聲波試塊
P91材料CSK-1A超聲波探傷試塊（來料加工）
CSK-IA試塊支架
CSK-IA超聲波試塊翻轉(zhuǎn)架
CSK-IIA試塊
CSK-IIIA超聲波檢測試塊
CSK-IIIA試塊翻轉(zhuǎn)架
不銹鋼、鋁合金CSK-IIIA超聲波試塊
P91材料超聲波檢測試塊
CSK-IVA超聲波試塊（全套共6塊，常規(guī)使用1-4號試塊）
T1試塊
T2試塊
T3試塊（分a、 b）
1#鋁及鋁合金對比試塊
2#鋁及鋁合金對比試塊
GS標(biāo)準(zhǔn)試塊（全套4塊）
測定儀器和探頭組合性能試塊（直徑5.6孔）
靈敏度校準(zhǔn)試塊
橫向缺陷試塊
縱向缺陷試塊
CSK-IIAm試塊（提供探鋼板厚度）
CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊（全套試塊分14塊）
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