覆層測厚儀廠家價格 返回列表頁

覆層測厚儀安裝措施：合理選擇安裝地點(diǎn)，干燥、無雨雪滴漏的地方。如若覆層測厚儀為液晶顯示儀器，面板（控制箱即顯示器）請用干布擦拭，嚴(yán)防沾水，以免損壞IC電子零件。上海魅宇開通網(wǎng)上購物。我公司擁有一支高素質(zhì)的技術(shù)隊(duì)伍和精良的加工設(shè)備，*的制作工藝及完善的檢測手段，并不斷從事新產(chǎn)品的研制和開發(fā)，生產(chǎn)出高品位、高質(zhì)量的產(chǎn)品以滿足市場的需要。

相關(guān)設(shè)備恒溫恒濕標(biāo)準(zhǔn)養(yǎng)護(hù)箱

功能特點(diǎn)：
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

參數(shù)：
▲測頭類型：F。
▲測量原理：磁感應(yīng)。
▲測量范圍：0-1250um。
▲低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
▲探頭連接方式：一體化。
▲示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。
▲兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。
▲測量條件：小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
▲基體小面積的直徑（mm）：ф7。
▲小臨界厚度（mm）：0.5。
▲溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
▲統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。
▲工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
▲測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
▲存儲能力：15 個測量值。
▲打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。
▲關(guān)機(jī)方式：自動。
▲電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
▲外形尺寸：150×55.5×23mm。
▲重量：150g。
▲基本配置：主機(jī)。
▲標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
▲鐵基體。
▲充電器。
▲可選附件。
▲TA230打印機(jī)。

基本原理：
本儀器采用了磁性測厚法，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。  基本工作原理是：當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計(jì)算覆層的厚度。

基本配置：
▲TT220主機(jī) 一臺
▲標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒
▲標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊
▲充電器 1個

主要功能：
▲可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：
▲具有兩種測量方式地：連續(xù)測量方式（continue）和單次測量方式（single）;
▲具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
▲具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；
▲設(shè)有五個統(tǒng)計(jì)量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
▲具有打印功能，或打印測量值、統(tǒng)計(jì)值；
▲具有欠壓指示功能；
▲操作過程有蜂鳴聲提示；
▲具有錯誤提示功能；
▲具有自動關(guān)機(jī)功能。

優(yōu)點(diǎn)：
▲測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
▲精度高 ：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場上能達(dá)到*的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
▲穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
▲功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

簡介：
該儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。