是德 網(wǎng)絡分析儀+單模光波元器件一套

Agilent E5071C 網(wǎng)絡分析儀 ：

主要特性與技術指標

廣泛的動態(tài)范圍：在測試端口處具有 > 123 dB 的動態(tài)范圍（典型值）
極快的測量速度：全雙端口校準時為 41 ms，1601 點
低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數(shù)測試裝置
端口選項：2 端口和 4 端口
平衡測量能力（4 端口選件）
頻率選件：9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭）
內置 Visual Basic 應用程序設計語言（VBA）

是德 網(wǎng)絡分析儀+單模光波元器件一套

概述：

Agilent E5071C網(wǎng)絡分析儀支持廣泛的頻率范圍和眾多功能，提供同類產(chǎn)品中*高的射頻性能和*快的速度，是制造和研發(fā)工程師評測9 kHz至8.5 GHz射頻元器件和電路的*佳工具。

Agilent E5071C主要技術指標：

寬動態(tài)范圍：在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB（典型值）
極快的測量速度：39 ms（進行*雙端口校準，掃描1601點時）
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時）
集成的2和4端口，帶有平衡測量能力
Agilent E5071C提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz

N4374B  單模光波元器件分析儀產(chǎn)品細述：

響應度精度（4.5 GHz 時）

相對響應度精度（4.5 GHz 時）

本底噪聲（4.5 GHz 時）

O/E 測量的本底噪聲為 < -90 dB A/W

(1310 ±20) nm

由于軌跡具有低噪聲，可通過高精度、可重復的測量來顯示 S21 特征的更多細節(jié)。

通過簡單、快速的校準和測量可降低擁有成本。

和相對響應度技術指標可以追溯到標準

已校準的***損耗墊（MLP）支持 75 歐姆

為高級測試設置提供延長的校準支持

用戶可選擇的發(fā)射機功率.