XH-3207碘表面污染測(cè)量?jī)x，采用閃爍探測(cè)法，一種便攜式低能γ放射性沾污測(cè)量?jī)x。
XH-3207碘表面污染測(cè)量?jī)x
關(guān)鍵詞：XH-3207碘表面污染測(cè)量?jī)x，XH-3207，碘表面污染測(cè)量?jī)x，XH-3206表面污染儀
XH-3207碘表面污染測(cè)量?jī)x儀器簡(jiǎn)介
XH-3207 125I, 131I碘表面污染測(cè)量?jī)x，采用閃爍探測(cè)法，一種便攜式低能γ放射性沾污測(cè)量?jī)x。用以檢測(cè)放射性工作場(chǎng)所和實(shí)驗(yàn)室的工作臺(tái)面、地板、墻面、手、衣服、鞋等表面受125I或131I放射性污染的程度。對(duì)醫(yī)院涉及放免藥盒、同位素示蹤等使用低能γ放射性同位素的場(chǎng)所，是*的防護(hù)測(cè)量?jī)x。
本儀表為液晶顯示小型可攜儀表，儀器顯示測(cè)量結(jié)果時(shí)發(fā)出音響訊號(hào)。液晶顯示高壓值和電池欠壓提示。電路采用微分測(cè)量法，可將入射的131I放射性對(duì)125I污染測(cè)量的影響減小到小程度。
XH-3207碘表面污染測(cè)量?jī)x主要指標(biāo)
計(jì)數(shù)容量：0～9999 cps
定 時(shí)：1～60＂，默認(rèn)2＂
測(cè)量范圍：125I ：0～9999 cps
131I ：0～9999 cps
γ能量范圍：125I：25～65Kev；131I： 364Kev
表面活度響應(yīng)
用探測(cè)效率表示：125I≥50% 本底≤5Hz
131I≥10% 本底≤30Hz
相對(duì)固有誤差：≤±25%
變異系數(shù)：儀表對(duì)于隨機(jī)的統(tǒng)計(jì)漲落而產(chǎn)生的示值變異系數(shù)＜±10%。
電池壽命：在正常使用條件下5#電池三節(jié)一次能連續(xù)使用12ｈ（背光關(guān)閉）；采用3.7V充電電池可連續(xù)20h（背光關(guān)閉）
高溫誤差：儀器在45±2℃條件下，通電4小時(shí)，其測(cè)量誤差≤±20%.
低溫誤差：儀器在-8±2℃條件下，通電4小時(shí)，其測(cè)量誤差≤±20%.
潮濕誤差：儀器在相對(duì)濕度為95±3%（40±2℃）條件下，不通電放置48小時(shí)，其測(cè)量誤差≤±10%（因溫度引起的誤差除外）
工作環(huán)境：
環(huán)境溫度：-10～+55℃
相對(duì)濕度：≤95±3%（40±2℃）
相關(guān)關(guān)鍵詞：慧龍環(huán)科，核輻射儀器，射線(xiàn)檢測(cè)儀，XH-2020, XH-2020D, XH-2060
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