超大容量穿透涂層超聲波測(cè)厚儀UM-4DL的主要功能

同檔產(chǎn)品中*采用清晰亮麗的OLED真彩屏
對(duì)比度10000：1，是TFT彩色液晶屏的40倍；
分辨率320×240，是同檔產(chǎn)品的9倍以上。

更快的測(cè)量更新率
更新率4Hz、8Hz、16Hz可調(diào)；
普通的應(yīng)用可選擇4Hz，當(dāng)需要快速掃查時(shí)可選更高的更新率。

A掃描快照功能
UM-4DL提供A掃描快照波形顯示功能。超聲波不再是看不見(jiàn)摸不著的抽象概念，用戶(hù)在屏幕上可直接看到超聲信號(hào)波形，用于驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確、分析出現(xiàn)問(wèn)題的原因、幫助用戶(hù)找到解決問(wèn)題的辦法。
具有穿透涂層功能，不再需要費(fèi)時(shí)費(fèi)力的去除涂層工作了
該功能是通過(guò)測(cè)量基材的兩個(gè)連續(xù)底面回波實(shí)現(xiàn)的。
該模式下還具有更多的優(yōu)勢(shì)：
1、免零點(diǎn)校準(zhǔn)；
2、高穩(wěn)定性，測(cè)量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；
3、零漂移。

經(jīng)濟(jì)型全數(shù)字測(cè)厚儀
全數(shù)字測(cè)厚儀需要把模擬的超聲波信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算處理，獲得高性能的厚度測(cè)量能力。UM-4DL的過(guò)零測(cè)量技術(shù)、高分辨力、A掃描快照功能都是以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)的。

更大的存儲(chǔ)器、更方便的存儲(chǔ)功能
可存儲(chǔ)100000個(gè)厚度值，是同檔產(chǎn)品的20至200倍；
采用柵格式存儲(chǔ)文件，一屏可顯示15個(gè)厚度值，并同時(shí)顯示其在柵格中的位置，便于用戶(hù)瀏覽所存的厚度數(shù)據(jù)；
USB 2.0 全速(Full Speed)接口，功能強(qiáng)大的DataView數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)及管理軟件。

同檔產(chǎn)品中達(dá)到0.01mm分辨能力的超聲波測(cè)厚儀
一般超聲波測(cè)厚儀的顯示分辨率通常是0.01mm，但真實(shí)的分辨能力很難達(dá)到0.01mm。普通測(cè)厚儀電路內(nèi)的定時(shí)計(jì)數(shù)器一般在30MHz以下，真正的硬件分辨力勉強(qiáng)只能到0.1mm，通過(guò)把多次測(cè)量結(jié)果取平均值的方法，模擬0.01mm變化的顯示效果，其實(shí)這樣并不能有效提高真實(shí)的分辨力，反而造成示值不穩(wěn)定的現(xiàn)象。UM-4DL超聲波測(cè)厚儀采用全數(shù)字技術(shù)及特殊的算法，其真實(shí)分辨力可達(dá)到0.01mm，實(shí)驗(yàn)證明可輕松分辨出厚度只相差0.01mm的兩個(gè)試塊。

采用過(guò)零測(cè)量技術(shù)
以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)，采用過(guò)零測(cè)量技術(shù)，厚度測(cè)量值不受回波強(qiáng)度、材料衰減系數(shù)、增益和閘門(mén)高度的影響，具有高測(cè)量穩(wěn)定性和可靠性。

更多實(shí)用的功能
報(bào)警、差值/縮減率、大/小值

超大容量穿透涂層超聲波測(cè)厚儀UM-4DL技術(shù)參數(shù)

UM-4DL標(biāo)準(zhǔn)配置

UM-4DL數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)特點(diǎn)

                                                                                                                                                                                                
UM-4DL多種探頭可選