XDS MultiVial 近紅外光譜儀 返回列表頁

XDS MultiVial 近紅外光譜儀儀器簡介

基于 XDS NIR 技術的 XDS MultiVial 近紅外光譜儀對樣品瓶中固體的快速無損測量提供了新一代近紅外分析方案。 用戶可以采用XDS MultiVial 近紅外光譜儀取代常規(guī)試驗，縮短產品的檢驗檢疫放行時間。無論在實驗室，還是現(xiàn)場離線分析都可以對樣品瓶中的樣品進行成分分析或材料鑒別檢測。該分析 儀支持無人值守模式下的光譜采集，使操作人員能夠騰出時間準備其它樣品、分析數據等。

XDS MultiVial 近紅外光譜儀的通用樣品盤可實現(xiàn)瓶裝樣品的連續(xù)測量。內置的光斑可調功能，可以根據樣品瓶直徑調節(jié)樣品的照度。 樣品中心定位的卡環(huán)可用于單個樣品分析，而選配的粗顆粒分析單元則將固態(tài)樣品的分析范圍從精細粉末擴大到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒等幾乎所有的固體。

XDS NIR 技術不僅帶來了*的分析性能，提高了靈敏度，同時加快了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉移。 使用*、界面友好、具有聯(lián)網能力的 Vision® 軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成精準的分析。