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當前位置：上海長肯試驗設備有限公司>>綜合試驗箱>>三綜合環(huán)境試驗設備>> CK-SJ1285手機翻蓋壽命測試綜合試驗設備
產(chǎn)品用途：
設備適用于手機、對講機、電子詞典、樓寓對講、CD/MD/MP3等小型消費類電子制品及零部件的自由落下試驗。設備采用氣動升降結構,可調節(jié)跌落高度,有多種跌落介質供選.
適用標準:JIS C 0044 IEC 60068-2-32。
產(chǎn)品特點：
本機采用氣動升降結構，將被檢測手機置于氣動夾具吸牢，按下跌落鍵，夾具連同手機一起跌落在300mm處釋放手機，從而保證做原姿態(tài)跌落試驗，確保手機棱，角，面跌落準確性，跌落高度按需求可進行上下調整。
詳細介紹：
技術參數(shù) | |
允許試件大重量 | 2Kg±100g |
跌落有效高度 | 400~2000mm |
跌落高度標尺材質 | 數(shù)字顯示高度分辨率：0.001mm |
跌落地板介質 | 大理石、木版、壓克力板 |
跌落范圍 | 500x600x 20mm |
使用氣壓 | 0.5Mpa |
機臺尺寸 | W700 x D900 x H 2500mm |
機臺重量 | 90kg |
電源 | 1∮,AC220V,5A或
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