X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 返回列表頁

微區(qū)X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
M4 TORNADO采用了技術，為各種用戶提供了佳的分析性能和方便的操控性。
·  采用多導毛細管聚焦鏡，照射光斑小，空間分辨率高。
·  渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。 
·  通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進行靈活的激發(fā)。
·  使用XFlash®探測器高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
·  基于無標樣分析法準確定量分析塊狀樣品，準確分析多層膜樣品。
·  具有便捷進樣功能的可抽真空的樣品室

行業(yè)應用：

1.地球科學（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像、行掃描與相序分析。）

2.司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析（對衣物上的彈孔進行射擊殘留物GSR分析）

3.藝術與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析，修復文物)

4.質量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）
5.發(fā)動機部件、電機/潤滑油（識別電機/潤滑油中的發(fā)動機磨損產物）
6.生命科學（檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）
7.材料科學（鋼材腐蝕檢驗）
8.環(huán)境科學(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
9.過濾器上的薄膜（空氣濾膜）