Agilent5110 ICP-OES等離子體光譜 返回列表頁

配合使用垂直炬管與速度更快且無需氣體吹掃的 VistaChip II CCD 檢測器，Agilent5110 ICP-OES等離子體光譜 （也稱作 ICP-AES）能夠以一半的氬氣用量來運行具挑戰(zhàn)的樣品，速度可提升 55%，并且不影響任何分析性能。

Agilent5110 ICP-OES等離子體光譜特性：

●  *的智能光譜組合 (DSC) 技術可實現同步水平和垂直信號測量，消耗更少氣體即可運行快的 ICP-OES 分析

●  高級閥系統(tǒng) (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上

●  垂直炬管設計可以測量包括高基質和揮發(fā)性有機溶劑在內的復雜樣品

●  通過分析過程中精準氣泡注入控制，可選 AVS 能夠有效縮短樣品提升、穩(wěn)定時間和清洗延時，從而實現高精度的分析

●  固態(tài) RF 系統(tǒng)可提供穩(wěn)定的等離子體，確保*穩(wěn)定的分析性能

●  IntelliQuant 模式使樣品中的所有元素一目了然，大大簡化了方法開發(fā)過程并實現了快速樣品篩選

●  直觀的 ICP Expert 軟件和 DSC 技術使方法開發(fā)更為便捷流暢

●  *集成式切換閥與即插即用式炬管*程度減少了培訓需求，確保實現快速啟動。

更多信息請點擊：Agilent等離子體光譜