Phenom 飛納地質(zhì)領(lǐng)域掃描電子顯微鏡 返回列表頁

飛納臺(tái)式掃描電鏡 專業(yè)版
                        —— 智能、高效、多功能

 放大倍數(shù)：20×-130,000×

分辨率：優(yōu)于17nm

電子槍：1500小時(shí)CeB6燈絲

抽真空時(shí)間：10秒

樣品移動(dòng)方式：自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)

樣品定位方式：光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航

樣品導(dǎo)電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體

拓展功能：顆粒分析系統(tǒng)、3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計(jì)測量、孔徑測量系統(tǒng)、高倍拼圖等

環(huán)境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺(tái)，可直接觀測液體

Phenom Pro （飛納臺(tái)式掃描電鏡 專業(yè)版）是 Phenom（飛納）產(chǎn)品中zui*的型號(hào)，在繼承了Phenom（飛納）*代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成優(yōu)質(zhì)圖像、售后無憂等優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，電鏡 分辨率和圖像質(zhì)量顯著提高。 采用了壽命高達(dá)1500小時(shí)的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學(xué)顯微鏡，提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具 備明場和暗場兩種模式。