當(dāng)前位置:鄭州澤銘科技有限公司>>α、β,x、γ輻射,放射測(cè)量?jī)x/γ譜儀>> 2013 α、β表面污染探測(cè)器 α、β探測(cè)器 α、β表面污染探測(cè)器采用閃爍體探測(cè)
α、β表面污染探測(cè)器
詳細(xì)描述
測(cè)量面積:100cm2
測(cè)量范圍:0~9999CPS
α探測(cè)效率30% 本底<3cpm
β探測(cè)效率≥30% 本底<150cpm
相對(duì)固有誤差:≤±20%
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