X射線電鍍膜厚分析儀 返回列表頁

X射線電鍍膜厚分析儀

【詳細(xì)說明】

熒光X射線鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，生產(chǎn)力，再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
可測元素范圍：
鈦() – 鈾(U)

可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
壓：0-50KV(程控)

主要特點

測量范圍寬，可檢測元素范圍；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；

精度、穩(wěn)定性好；

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能；

標(biāo)準(zhǔn)片；

的系統(tǒng)安全性

簡單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的*

Ø主管人員可進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù)

Ø系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄

Ø自動鎖定功能防止未*的操作

ØZ軸保護(hù)傳感器

Ø安全防射線光閘

Ø樣品室門開閉傳感器

ØX射線鎖

ØX射線警示燈

Ø緊急停止按鈕

Ø前面板安全鈕和后面板安全鎖

綜合性能:鍍層分析  
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).

X射線電鍍膜厚分析儀