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美國(guó)GE超聲波探頭總經(jīng)銷商
美國(guó)GE檢測(cè)科技公司提供全套系列的Krautkramer 單晶接觸式探頭和單晶延遲探頭，可與超聲波測(cè)厚儀*兼容。我們提供的探頭類型多樣，能滿足您對(duì)不同金屬及非金屬材料的平滑表面的測(cè)試要求。根據(jù)材料性能以及儀器/探頭連接的不同，測(cè)厚儀的測(cè)量范圍可以從0.005至15.00英寸(即0.13至381 mm)，分辨率可達(dá)0.0001英寸。
超聲波測(cè)厚儀DM5E Basic/DM5E/DM5EDL常用探頭技術(shù)數(shù)據(jù)
名稱    標(biāo)準(zhǔn)探頭    超厚探頭    超薄小管徑探頭    高溫探頭
型號(hào)    DA501    DA503    DA512    DA509
界面回波測(cè)量范圍    1.0～200mm    5.0～300mm    0.6～60mm    20℃時(shí)1.0～125mm
204℃時(shí)1.3～25.4mm
回波回波測(cè)量范圍    3.0～100mm    10～150mm    3.0～25mm     
頻率    5MHz    2MHz    7.5MHz    5MHz
探頭接觸直徑    12mm    16.1mm    7.5mm    12.7mm
連續(xù)測(cè)量工作溫度    -10～70℃    -10～70℃    -20～70℃    -20～204℃*
 
注：
所示溫度為廠家理想狀態(tài)試驗(yàn)所得，實(shí)際溫度會(huì)低于此溫度。注意高溫耦合劑的正確使用方法。
測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑。
DM5E系列測(cè)厚儀可兼容DM4系列的一些探頭，包括：DA301、DA303、DA312、FH2E、DM401

M系列氧化鋁水份探頭可測(cè)量氣體和非水液體中從微量到常量的水份含量。它可與GE Panametrics的所有水份分析儀配合使用。使用方便、寬測(cè)量范圍和嚴(yán)格的校準(zhǔn)穩(wěn)定性使這系統(tǒng)成為世界范圍內(nèi)工業(yè)水份測(cè)量的*。它有出眾的靈敏性，響應(yīng)速度和標(biāo)定穩(wěn)定性，以及很寬的測(cè)量范圍。該探頭具有的氧化層薄膜厚度使得其顯示真正的濕度，而不是相對(duì)濕度響應(yīng)，同時(shí)使得溫度與滯后的影響降至zui低。使用M系列氧化鋁水份探頭再氣體與液體中直接測(cè)量水的蒸汽壓非常便利與有效。該探頭經(jīng)過(guò)一系列特殊工藝陽(yáng)極電鍍使鋁基表面產(chǎn)生多孔氧化層并形成極薄金鍍層，鋁基與金鍍層形成兩個(gè)電極，整個(gè)結(jié)構(gòu)成為一個(gè)氧化鋁電容。水汽平衡分布于氧化鋁孔隙壁上，每個(gè)孔隙壁的電阻值提供了與水蒸汽壓成函數(shù)關(guān)系的阻抗，可測(cè)量氣體和液體中的水份含量。美國(guó)GE超聲波探頭總經(jīng)銷商

GE是清潔能源積極的踐行者，致力于把*的清潔能源技術(shù)帶給中國(guó)。過(guò)去十年中，GE風(fēng)電為中國(guó)提供了467億度的清潔電力，相當(dāng)于節(jié)省4600萬(wàn)噸的二氧化碳排放。GE水電的裝機(jī)量占水電業(yè)務(wù)的25%；GE位于天津的水電基地已經(jīng)成為中國(guó)市場(chǎng)上的水電設(shè)備及系統(tǒng)供應(yīng)商之一。GE作為的民用、公務(wù)和通用飛機(jī)噴氣及渦槳發(fā)動(dòng)機(jī)、部件和集成系統(tǒng)制造商，雖然不直接制造飛機(jī)，但許多飛機(jī)能夠翱翔于藍(lán)天卻離不開GE，確切的說(shuō)是依靠GE所提供的航空發(fā)動(dòng)機(jī)。為了提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品，為飛機(jī)提供一顆強(qiáng)大的鋼鐵“心臟”，GE一直與中國(guó)航空業(yè)的合作伙伴們保持著非常緊密的合作關(guān)系。

用于測(cè)試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體，它們由于具有長(zhǎng)的聲程（例如大的鍛件或球墨鑄鐵）而會(huì)導(dǎo)致大的聲波衰減。它們也適合用于測(cè)試具有強(qiáng)的聲波吸收特性的塑料（例如尼龍、特氟龍、聚丙烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護(hù)膜去掉。用于測(cè)試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會(huì)通過(guò)聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導(dǎo)致高的聲波衰減。它們也可以用于測(cè)試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導(dǎo)體材料的特性）探頭型號(hào)有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S這類探頭的公差分布范圍窄，對(duì)目前大多數(shù)的測(cè)試任務(wù)來(lái)說(shuō)（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測(cè)試，以及窗口和螺釘、螺孔和外殼等的測(cè)試），可以達(dá)到zui高的精度要求。對(duì)于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構(gòu)成的開關(guān)簡(jiǎn)單的部件的測(cè)試也可以達(dá)到高精度要求。