二手sem掃描電鏡 返回列表頁(yè)

二手sem掃描電鏡：
日立新推出的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，1kv的分辨率提升到1.3nm，并在探測(cè)器設(shè)計(jì)上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號(hào)，實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測(cè)；結(jié)合選配的STEM探測(cè)器，還可以實(shí)現(xiàn)明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像的觀測(cè)；此外在半導(dǎo)體應(yīng)用中，還可以安裝EBIC探測(cè)器，采集感生電流圖像，*豐富了信號(hào)的采集，對(duì)樣品的信息的收集達(dá)到了新的高度。

應(yīng)用領(lǐng)域：

主要用于生物體、高分子、無(wú)機(jī)非金屬、金屬材料等樣品的表面形貌觀察及元素成分分析。廣泛應(yīng)用于生物、能源、材料、化工、環(huán)境等研究領(lǐng)域。

儀器主要配置：

X射線(xiàn)能譜儀，離子濺射儀，真空蒸鍍儀，冷凍干燥機(jī)。

主要性能指標(biāo)：

1. 二次電子分辨率：1.4nm（1kV，減速模式）；1nm（15kV）

2. 電子槍?zhuān)豪鋱?chǎng)發(fā)射電子源

3. 加速電壓：0.5 ～ 30 kV

4. 放大倍數(shù)：×20 ～ ×800,000

5. 探測(cè)器：低位/高位二次電子探測(cè)器

二手sem掃描電鏡

描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線(xiàn)和連續(xù)譜X射線(xiàn)、背散射電子、透射電子，以及在可見(jiàn)、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)，也可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng) （聲子）、電子振蕩 （等離子體）。原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等等。

掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機(jī)理，采用不同的信息檢測(cè)器，使選擇檢測(cè)得以實(shí)現(xiàn)。如對(duì)二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對(duì)x射線(xiàn)的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。正因如此，根據(jù)不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

掃描電子顯微鏡是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。