電子半導(dǎo)體調(diào)試控溫高低溫機(jī)組 返回列表頁(yè)

電子半導(dǎo)體調(diào)試控溫高低溫機(jī)組

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電子半導(dǎo)體調(diào)試控溫高低溫機(jī)組

芯片高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用說(shuō)明

　　無(wú)錫冠亞芯片高低溫測(cè)試機(jī)是針對(duì)電子元器件行業(yè)測(cè)試所推出的，那么，這類(lèi)芯片高低溫測(cè)試機(jī)適用于那些行業(yè)呢？

　　經(jīng)過(guò)無(wú)錫冠亞的努力，其開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測(cè)試機(jī)TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號(hào)可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，在微弱電流測(cè)試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，測(cè)試原理符合國(guó)標(biāo)及軍標(biāo)要求，功率參數(shù)采用300uS脈沖測(cè)試，并采用數(shù)據(jù)、圖形雙重顯示。用于普通、化、時(shí)間等各類(lèi)電磁繼電器參數(shù)的測(cè)試，在觸點(diǎn)接觸電阻和時(shí)間參數(shù)的測(cè)試方面有良好的特性，被我國(guó)國(guó)軍標(biāo)電磁繼電器生產(chǎn)線選用。

隨著集成電路電性測(cè)試技術(shù)及要求的提高，有些芯片產(chǎn)品內(nèi)部集成了溫度傳感器，同時(shí)測(cè)試程序中加入了溫度測(cè)試條目來(lái)實(shí)時(shí)準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)在測(cè)芯片的實(shí)際溫度。即使沒(méi)有集成溫度傳感器，現(xiàn)在的精研測(cè)試恒溫器測(cè)試技術(shù)也可以通過(guò)測(cè)量某些與溫度變化線性相關(guān)的精密二管的電壓變化，通過(guò)一系列公式來(lái)計(jì)算出當(dāng)前在測(cè)芯片的實(shí)際溫度。

　　精研測(cè)試恒溫器的發(fā)展是和半導(dǎo)體芯片行業(yè)發(fā)展息息相關(guān)的，面對(duì)芯片、半導(dǎo)體行業(yè)的飛速發(fā)展，精研測(cè)試恒溫器的發(fā)展前景也是很可觀的。（注：本來(lái)部分內(nèi)容來(lái)百度學(xué)術(shù)相關(guān)論文，如果侵權(quán)，請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系我們進(jìn)行刪除，謝謝。）