當(dāng)前位置:湖南振華分析儀器有限公司>>熱分析儀器>> HCX09A薄膜熱物性測試儀
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時,同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進行。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時的瞬態(tài)實驗?zāi)P?。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù),由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下,當(dāng)溫度振蕩頻率達到一定值后,利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器于研究薄膜材料熱物性特性。
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