Microsense大型磁光克爾效應測量系統(tǒng) 返回列表頁

美國Microsense公司生產的大型磁光克爾效應系統(tǒng)是磁盤材料技術和多層磁性薄膜材料研究的有力工具。多年以來，Microsense公司僅專注于精密測量技術的開發(fā)和研究。zui終形成了不僅可以適用于實驗室做研發(fā)的，同時還適用于工業(yè)化生產的大型磁光克爾效應測量系統(tǒng)。成為在該領域*的工業(yè)產業(yè)化的磁光克爾效應系統(tǒng)。根據不同的磁性薄膜和磁盤技術，共有四款磁光克爾效應測量系統(tǒng)，以適合不同的產品研發(fā)和生產。

1. 磁電阻隨機存儲器極向克爾效應測量系統(tǒng)（Polar Kerr for MRAM）         

2. 垂直磁存儲材磁盤向克爾效應測量系統(tǒng)（Polar Kerr for PMR Disk）

3. 面內磁存儲縱向克爾效應測量系統(tǒng) （Kerr Mapper）

4. 熱輔助寫入磁盤磁光克爾效應系統(tǒng) （Disk Mapper H7）

此外，Microsense公司還研發(fā)了世界上的電磁鐵系統(tǒng)的振動樣品磁強計，平配有扭矩測量，磁電阻測量，變溫控制等多種選件