塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)ZEM

               ——定量測(cè)量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻                             

產(chǎn)品介紹：

塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評(píng)估。作為ZEM的特點(diǎn)，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來(lái)測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

♦  擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

♦  測(cè)量是由計(jì)算機(jī)控制的，并且能夠在的溫度下執(zhí)行測(cè)量，并允許自動(dòng)測(cè)量消除背底電動(dòng)勢(shì)；

♦  歐姆接觸自動(dòng)檢測(cè)功能（V-I圖）；

♦  可以用適配器來(lái)測(cè)量薄膜；

♦  可定制高阻型。 

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)：

樣品腔部分：

工作原理圖：

應(yīng)用方向：

對(duì)于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

可選功能：

1. 薄膜測(cè)量選件

2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）

3.高阻選件（可高達(dá)10MΩ）

參數(shù)配置：

附：

熱電材料/器件測(cè)試設(shè)備