CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設(shè)計，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，*的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。

CS電化學(xué)工作站具體應(yīng)用于：

（1）電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機(jī)理研究；

（2）電化學(xué)分析研究；

（3）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等）、*功能材料以及傳感器的性能研究；

（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價；

（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評價。

 硬件特點

 ● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器

 ● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz

 ● 高帶寬高輸入阻抗的放大器

 ● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器

 ● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計

 ● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V（可擴(kuò)展至±200V）

 ● 電流控制范圍：±2.0A（可擴(kuò)展至20A）

 ● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA（可延伸至100fA）

軟件特點

 ① 數(shù)據(jù)分析

 伏安曲線的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等；

 極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，極限擴(kuò)散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。

 ② 實時存儲

 CorrTest實時存儲測量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測試中斷，中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。

 ③ 定時測量

 CorrTest測試軟件具有定時測量功能， 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時，可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間，讓儀器在無人值守下自動定時測量，為實驗提供方便。

 技術(shù)優(yōu)勢

 ① 交流阻抗

 儀器采用相關(guān)積分算法和雙通道同步過采樣技術(shù)，具有較強(qiáng)的抗*力，尤其適合于涂層、混凝土等高阻體系（>109Ω）的交流阻抗測量，也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制。軟件能實時顯示開路電位，用戶無需輸入，即可輸出準(zhǔn)確的極化過電位。

 ② 極化曲線

 具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能，用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流（鈍化膜擊穿電流），來確定材料的點蝕電位和保護(hù)電位，評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。

③ 伏安分析

 能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯伏安（SCV）、方波伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）、交流伏安（ACV）、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積、峰電流計算和標(biāo)準(zhǔn)曲線分析功能。

④ 電化學(xué)噪聲

 采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動，可用于點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析，可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點或裂紋的誘導(dǎo)、生長和死亡過程。基于噪聲電阻和點蝕指數(shù)計算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測。

⑤ 功率擴(kuò)展

 CS系列電化學(xué)工作站的電流控制范圍為±2.0A，槽壓輸出≥21V，可滿足燃料動力電池、大功率電池充放電、電化學(xué)電解或電沉積等領(lǐng)域的需求。采用的功率擴(kuò)展器，大輸出電流可達(dá)20A，槽壓±200V。

 ⑥ 全浮地測量

 CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電極，可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究，如用于高壓釜電化學(xué)測試（釜體接地），大地中金屬構(gòu)件（橋梁、混凝土鋼筋）的在線腐蝕研究等。

 ⑦ 光電測試模塊

 CS電化學(xué)工作站可以與光強(qiáng)計、分光光度計聯(lián)用，用于光電化學(xué)測量，在進(jìn)行電化學(xué)測量的同時記錄光電流或光譜響應(yīng)信號。

 ⑧ 自定義方法

 支持用戶自定義組合測量，用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進(jìn)行某一測試方法或多種方法的組合測試，用于無人值守下的定時自動測量；

 提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實例，方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法；

 提供用戶自定義腳本編寫范例，用于實現(xiàn)您*的電化學(xué)實驗技術(shù)。

硬件參數(shù)指標(biāo)
 

 恒電位控制范圍：±10V

 恒電流控制范圍：±2.0A

 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV

 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)

 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)

 電流靈敏度：1pA

 電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A)

 電流量程：2nA～2A, 共10檔

 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF

 大輸出電流：2.0A

 槽壓輸出：±21V （可擴(kuò)展至±200V)

 電流掃描增量：1mA @1A/mS

 CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s

 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS

 CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s

 DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s

 SWV頻率：0.001～100KHz

 CV的小電位增量：0.075mV

 AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1KHz

 電流與電位量程：自動設(shè)置

 DA分辨率：16bit，建立時間：1μS

 低通濾波器 ：8段可編程

 通訊接口：USB2.0

 儀器重量：6.5Kg

 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H)

電化學(xué)阻抗測量指標(biāo)
 

  信號發(fā)生器

 頻率響應(yīng)：10μHz～1MHz

 交流信號幅值：1mV～2500mV

 頻率精確度：0.005%

 信號分辨率：0.1mV RMS

 DDS輸出阻抗：50Ω

 直流偏壓：-10V～+10V

 正弦波失真率：<1%

 波形：正弦波，三角波，方波

 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降

 信號分析器

 大積分時間：106個循環(huán)或者105S

 測量時間延遲：0～105秒

 小積分時間：10mS 或者一個循環(huán)的長時間

 直流偏置補償

 電位補償范圍：-10V～+10V

 電流補償范圍：-1A～+1A

 帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào)

CS單通道系列不同型號功能方法比較

功能方法

CS120H

CS150H

CS300H

CS310H

CS350H

穩(wěn)態(tài)極化

開路電位測量（OCP）

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恒電位極化（i-t曲線）

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恒電流極化

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動電位掃描（TAFEL曲線）

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動電流掃描（DGP）

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暫態(tài)極化

任意恒電位階梯波

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任意恒電流階梯波

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恒電位階躍（VSTEP）

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恒電流階躍（ISTEP）

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計時分析

計時電位法（CP）

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計時電流法（CA）

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計時電量法（CC）

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伏安分析

線性掃描伏安法（LSV）#

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線性循環(huán)伏安法（CV）

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階梯循環(huán)伏安法（SCV）#

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方波伏安法（SWV）#

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差分脈沖伏安法（DPV）#

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常規(guī)脈沖伏安法（NPV）#

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常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）#

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差分脈沖電流檢測法（DPA）

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雙差分脈沖電流檢測法（DDPA）

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三脈沖電流檢測法（TPA）

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積分脈沖電流檢測法（IPAD）

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交流伏安法（ACV）#

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二次諧波交流伏安（SHACV）

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傅立葉變換交流伏安（FTACV）

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交流阻抗

電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描

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電化學(xué)阻抗（EIS）～時間掃描

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電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）

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腐蝕測量

循環(huán)極化曲線（CPP）

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線性極化曲線（LPR）

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動電位再活化法（EPR）

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電化學(xué)噪聲（EN）

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電偶腐蝕測量（ZRA）