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梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平讀數(shù)精度范圍廣 – 從0.005 mg到0.1 mg，量程范圍從54 g到520 g，涵蓋了所有分析工作流程。

Analytical Balances
什么是分析天平？
分析天平和半分析天平是一種形式的電子秤，用于以較高的精確度測(cè)量質(zhì)量。
其稱量量程范圍為54-520 g，讀數(shù)精度為0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通過防風(fēng)罩或防風(fēng)柜對(duì)其進(jìn)行保護(hù)。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配備了SmartGrid稱量盤，可大程度減小氣流擾動(dòng)，因此縮短了穩(wěn)定時(shí)間，更快獲得稱量結(jié)果。

Analytical Balances - Applications - Pipette Calibration
分析天平用在什么位置？ 分析天平的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？
分析天平電子秤也稱為“實(shí)驗(yàn)室天平”，可對(duì)樣品進(jìn)行定量分析。 電子分析天平的典型應(yīng)用包括：
樣品/標(biāo)準(zhǔn)液制備，
配方，
差重稱量
密度測(cè)定
間隔稱量
移液器日常測(cè)試
 
如何在分析天平上稱量？
開始稱量操作之前，打開門并使用手套或鑷子將容器放置到稱量盤上。 關(guān)門，等待表示重量的值穩(wěn)定。 按去皮按鈕直至其顯示0.0000 g，清除顯示內(nèi)容。 添加樣品，直到達(dá)到所需重量。 關(guān)門，再次等待穩(wěn)定 – 記錄凈重。 如果儀器斷開電源進(jìn)行清潔，則留出重新校正時(shí)間，然后再重新使用。

梅特勒-托利多分析天平的防風(fēng)罩幾秒之內(nèi)即可拆除，并且具有可安全使用洗碗機(jī)的面板，實(shí)現(xiàn)輕松清潔。 天平的清潔建議與規(guī)定
 
什么是分析天平不確定度？
進(jìn)行測(cè)量時(shí)，總是存在不確定度元素。 對(duì)測(cè)量可疑度的估計(jì)（不確定度）是任何測(cè)量的關(guān)鍵。 這是通過測(cè)量天平性能、稱量物體的屬性以及周圍環(huán)境來(lái)確定的。 測(cè)量不確定度的確定是天平校準(zhǔn)不可分割的一部分。

為什么校準(zhǔn)分析天平？
分析天平校準(zhǔn)可確保稱量設(shè)備既準(zhǔn)確，又符合ISO、GLP/GMP、IFS與BRC等標(biāo)準(zhǔn)。 書面校準(zhǔn)程序?qū)y(cè)量質(zhì)量進(jìn)行了說明，應(yīng)當(dāng)在天平的整個(gè)使用期限內(nèi)定期校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)不應(yīng)與天平校正混為一談，必須在校正/維修之后重復(fù)進(jìn)行校準(zhǔn)。 了解校準(zhǔn)的更多內(nèi)容。
 
如何校準(zhǔn)分析天平？
分析天平的校準(zhǔn)由*服務(wù)技術(shù)人員使用校準(zhǔn)軟件，遵循標(biāo)準(zhǔn)程序來(lái)執(zhí)行：
通過測(cè)試測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和校準(zhǔn)指示之間的關(guān)系，來(lái)確定儀器的性能如何。
通過合格/不合格聲明驗(yàn)證儀器是否符合特定要求。
如果不符合要求，則校正儀器，以便任何偏差都不會(huì)超過允差限值。
重新校準(zhǔn)儀器，確認(rèn)符合規(guī)定的允差要求。
在校準(zhǔn)間隔之間的時(shí)間內(nèi)，由用戶執(zhí)行的日常測(cè)試可檢測(cè)潛在問題。

梅特勒-托利多開發(fā)了一個(gè)用于保證稱量設(shè)備的正確選型、校準(zhǔn)和操作的性科學(xué)標(biāo)準(zhǔn)，稱為GWP®，即Good Weighing Practice™。

 
哪些允差適用于天平校準(zhǔn)？
允差用于確定天平或電子秤可否有效稱量，以達(dá)到一系列特定的工藝要求。 允差定義了發(fā)出通過/未通過聲明的標(biāo)準(zhǔn)。 允差源自各種來(lái)源，其中包括：

法定允差：
OIML R76或NIST手冊(cè)44（*美國(guó)）規(guī)定的法定允差用于評(píng)估合法貿(mào)易品要求。 此類允差非常大，使用實(shí)驗(yàn)室天平或者在測(cè)量范圍的低端進(jìn)行稱量時(shí)，可輕易達(dá)標(biāo)。
制造商允差：
制造商允差確保設(shè)備滿足制造商規(guī)格。 制造商允差不考慮用戶的特定過程要求，因此不適合改進(jìn)稱量過程。
過程允差：
特定過程允差由用戶定義，支持過程改進(jìn)，節(jié)省材料，避免浪費(fèi)和返工。 因此對(duì)于合法貿(mào)易應(yīng)用中的電子秤，除法定允差外，還應(yīng)使用過程允差。
法定允差可保護(hù)消費(fèi)者但不考慮特定生產(chǎn)商的要求。 優(yōu)化應(yīng)用于測(cè)量?jī)x器的過程允差會(huì)對(duì)過程盈利能力產(chǎn)生巨大影響。

什么是分析天平小稱量值？
每個(gè)分析天平小稱量值都是不同的，具體取決于稱重傳感器的性能、其位置以及環(huán)境條件。 小稱量值是儀器的準(zhǔn)確性限值，如果低于此小稱量值，相對(duì)測(cè)量不確定度（測(cè)量不確定度除以荷載，通常以%表示）則會(huì)大于所需的稱量準(zhǔn)確性，稱量結(jié)果無(wú)法信任。
為了確定天平的小稱量值，需要在工作環(huán)境中評(píng)測(cè)測(cè)量不確定度。 另外，作為小稱重范圍天平中的一個(gè)主要誤差源，還可對(duì)可重復(fù)性進(jìn)行評(píng)測(cè)以確定小稱量值，該過程使用低于天平量程5%的小砝碼執(zhí)行。

梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由經(jīng)過認(rèn)證的技術(shù)人員安裝，用于監(jiān)測(cè)天平的小樣品重量。 如果稱量低于所確定的可接受小值，天平顯示屏則會(huì)變?yōu)榧t色。
 
分析天平準(zhǔn)確性和精確性 – 兩者之間差別是什么，如何測(cè)試？
精確性指的是兩個(gè)或多個(gè)測(cè)量值之間的接近度。 準(zhǔn)確性指的是測(cè)量值與已知值之間的接近度，它基于讀數(shù)精度、可重復(fù)性、非線性和偏載度。 準(zhǔn)確性可使用以下方式進(jìn)行測(cè)試：
具有已知質(zhì)量的外部參比砝碼（可追溯校準(zhǔn)砝碼）
使用內(nèi)置到天平的參比質(zhì)量的自動(dòng)內(nèi)部校正
準(zhǔn)確性只能通過在使用位置對(duì)儀器進(jìn)行的測(cè)試加以確定。
查看有關(guān)Good Weighing Practice的實(shí)驗(yàn)室天平教程 – 基本知識(shí)和稱量影響課程。
 
靜電對(duì)分析天平有哪些影響，如何消除靜電負(fù)荷？
靜電負(fù)荷可能導(dǎo)致稱量結(jié)果不穩(wěn)定，不可重復(fù)。 靜電會(huì)對(duì)稱量盤產(chǎn)生作用力，直接影響分析天平結(jié)果。 減少這些影響的預(yù)防措施包括：
確保充足的空氣濕度(≥ 45%...50%)
盡可能使用防靜電稱量容器（是金屬）
避免摩擦容器
如果樣品足夠小，則使用帶邊緣的金屬盤來(lái)幫助屏蔽磁場(chǎng)。
要確保分析天平靜電消除，可在稱量之前使用去靜電裝置對(duì)樣品和容器進(jìn)行放電。

梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平選型

電子天平 XPR205D5/AC
電子天平 XPR205DU/AC
電子天平 XPR206DR/AC
電子天平 XPR205/AC
電子天平 XPR205DR/AC
電子天平 XPR105/AC
電子天平 XPR105DR/AC
電子天平 XPR305D5/AC
電子天平 XPR204/AC
電子天平 XSR204/AC
電子天平 XSR304/AC
電子天平 XSR204DR/AC
電子天平 XSR104/AC
電子天平 XSR64/AC
Balance XSR105DU/AC
電子天平 XSR105/AC
電子天平 XSR205DU/AC
電子天平 XSR225DU/AC
電子天平MS104TS/02
電子天平MS204TS/02
電子天平MS304TS/02
電子天平ML54T/00
電子天平ML104T/00
電子天平ML204T/00
電子天平ML304T/00
電子天平ML104T/02
電子天平ML204T/02
電子天平ML304T/02
電子天平ML54T/02
電子天平MS105
Analytical Balance MS105/M
電子天平MS105DU
Analytical Balance MS105DU/M
電子天平MS205DU
電子天平MS204
Analytical Balance MS205DU/M
Analytical Balance MS204/M
Analytical Balance ME54T/02
電子天平ME104/02
電子天平ME104E/02
電子天平ME204/02
電子天平ME204E/02
電子天平ME54/02
電子天平ME54E/02